Bibliografia Dorobku Piśmienniczego Pracowników Politechniki Łódzkiej od 2004

1/37
Nr opisu: 0000045649
Autorzy: Piotr Zając, Marcin Janicki, Michał Szermer, Andrzej Napieralski.
Tytuł: Evaluating the impact of scaling on temperature in FinFET-technology multicore processors.
Czasopismo: Microelectron. J. 2015 Vol.45 nr 12 s.1806-1813
p-ISSN: 0959-8324
e-ISSN: 1879-2391
Uwagi wewnętrzne: DIG_045649. Elsevier. Scopus.
Zasięg czasopisma: M
Kraj: NLD
Język: eng
Czasopismo umieszczone na Liście Filadelfijskiej
Praca afiliowana przez PŁ
DOI:
2/37
Nr opisu: 0000044528
Autorzy: Piotr Zając, Cezary Maj, Michał Szermer, Mykhaylo Lobur, Andrzej Napieralski.
Tytuł: Analytical tool for electro-thermal modelling of microbolometers.
Cytata wydawnicza: EuroSimE 2014. 2014 15th International Conference on Thermal, Mechanical and Multi-Physics Simulation and Experiments in Microelectronics and Microsystems.
Adres wydawniczy: [B.m.], 2014
Szczegóły: s.1-6
Uwagi wewnętrzne: DIG_044528. IEEE. Compendex. Scopus.
Zasięg publikacji/pracy: M
Kraj: BEL
Kod współpracy międzynarodowej: UKR
Język: eng
Praca afiliowana przez PŁ
DOI:
3/37
Nr opisu: 0000044529
Autorzy: Marcin Janicki, Piotr Zając, Michał Szermer, Andrzej Napieralski.
Tytuł: Compact thermal modeling of microbolometers.
Cytata wydawnicza: EuroSimE 2014. 2014 15th International Conference on Thermal, Mechanical and Multi-Physics Simulation and Experiments in Microelectronics and Microsystems.
Adres wydawniczy: [B.m.], 2014
Szczegóły: s.1-4
Uwagi wewnętrzne: DIG_044529. IEEE. Compendex. Scopus.
Kraj: BEL
Język: eng
Praca afiliowana przez PŁ
DOI:
4/37
Nr opisu: 0000046896
Autorzy: Andrzej Napieralski, Cezary Maj, Michał Szermer, Piotr Zając, Wojciech Zabierowski, Małgorzata Napieralska, Łukasz Starzak, Mariusz Zubert, Rafał Kiełbik, Piotr Amrozik, Zygmunt Ciota, Robert Ritter, Marek Kamiński, Rafał Kotas, Paweł Marciniak, Bartosz Sakowicz, Kamil Grabowski, Wojciech Sankowski, Grzegorz Jabłoński, Dariusz Makowski, Aleksander Mielczarek, Mariusz Orlikowski, Mariusz Jankowski, Piotr Perek.
Tytuł: Recent research in VLSI, MEMS and power devices with practical application to the ITER and dream projects.
Czasopismo: Facta Univ. Electron. Energ. 2014 Vol.27 nr 4 s.561-588
p-ISSN: 0353-3670
e-ISSN: 2217-5997
Uwagi wewnętrzne: DIG_046896
Zasięg czasopisma: M
Kraj: SRB
Język: eng
Praca afiliowana przez PŁ
Adres url:
DOI:
5/37
Nr opisu: 0000046520
Autorzy: Mykhaylo Melnyk, Andriy Kernytskyy, Mykhaylo Lobur, Michał Szermer, Piotr Zając, Wojciech Zabierowski.
Tytuł: Study of characteristics of MEMS thermo-electric actuators.
Cytata wydawnicza: MEMSTECH 2014. Proceedings of Xth International Conference. Perspective Technologies and Methods in MEMS Design.
Adres wydawniczy: [B.m.], 2014
Szczegóły: s.39-41
forma: odb.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Kat. Mikroelektron. i Tech. Inform.
Uwagi wewnętrzne: DIG_046520
Zasięg publikacji/pracy: M
Kraj: UKR
Kod współpracy międzynarodowej: UKR
Język: eng
Praca afiliowana przez PŁ
6/37
Nr opisu: 0000046522
Autorzy: Rostyslav Kryvyy, Mykhaylo Melnyk, Oleh Matviykiv, Piotr Zając, Cezary Maj, Michał Szermer.
Tytuł: Using COMSOL multiphysics for modeling processes in microbolometer.
Cytata wydawnicza: MEMSTECH 2014. Proceedings of Xth International Conference. Perspective Technologies and Methods in MEMS Design.
Adres wydawniczy: [B.m.], 2014
Szczegóły: s.48-50
forma: odb.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Kat. Mikroelektron. i Tech. Inform.
Uwagi wewnętrzne: DIG_046522
Zasięg publikacji/pracy: M
Kraj: UKR
Kod współpracy międzynarodowej: UKR
Język: eng
Praca afiliowana przez PŁ
7/37
Nr opisu: 0000044484
Autorzy: Michał Szermer, Marcin Janicki, Piotr Zając, Łukasz Kotynia, Mariusz Jankowski, Andrzej Napieralski.
Tytuł: Dedicated thermal emulator for analysis of thermal coupling in many-core processors.
Czasopismo: Microelectron. J. 2014 Vol.45 nr 7 s.960-966
p-ISSN: 0959-8324
e-ISSN: 1879-2391
Uwagi wewnętrzne: DIG_044484. Elsevier. Scopus. Compendex.
Zasięg czasopisma: M
Kraj: NLD
Język: eng
Czasopismo umieszczone na Liście Filadelfijskiej, wskaźnik Impact Factor ISI: 0.836
Praca afiliowana przez PŁ
DOI:
8/37
Nr opisu: 0000044857
Autorzy: Cezary Maj, Piotr Zając, Michał Szermer, Andrzej Napieralski.
Tytuł: The influence of residual stress induced by wafer bonding on MEMS membrane properties.
Cytata wydawnicza: MIXDES 2014. Proceedings of the 21st International Conference. Mixed Design of Integrated Circuits and Systems.
Adres wydawniczy: Łódź, 2014
Szczegóły: s.93-96
Lokalizacja dokumentu: Wł. Bibl. Politech. Łódz.
Uwagi wewnętrzne: Compendex.
Zasięg publikacji/pracy: M
Kraj: POL
Język: eng
Praca afiliowana przez PŁ
DOI:
9/37
Nr opisu: 0000044861
Autorzy: Melvin Galicia, Piotr Zając, Cezary Maj, Michał Szermer, Andrzej Napieralski.
Tytuł: Modelling modern processors using FEM and compact model - a comparative study.
Cytata wydawnicza: MIXDES 2014. Proceedings of the 21st International Conference. Mixed Design of Integrated Circuits and Systems.
Adres wydawniczy: Łódź, 2014
Szczegóły: s.293-297
Lokalizacja dokumentu: Wł. Bibl. Politech. Łódz.
Uwagi wewnętrzne: Compendex.
Zasięg publikacji/pracy: M
Kraj: POL
Język: eng
Praca afiliowana przez PŁ
DOI:
10/37
Nr opisu: 0000044858
Autorzy: Petro Kosobutskyy, Mykhaylo Komarnutskyy, Cezary Maj, Piotr Zając, Michał Szermer, Wojciech Zabierowski.
Tytuł: Monte Carlo modeling of stiffness of MEMS membrane.
Cytata wydawnicza: MIXDES 2014. Proceedings of the 21st International Conference. Mixed Design of Integrated Circuits and Systems.
Adres wydawniczy: Łódź, 2014
Szczegóły: s.97-100
Lokalizacja dokumentu: Wł. Bibl. Politech. Łódz.
Uwagi wewnętrzne: Compendex.
Zasięg publikacji/pracy: M
Kraj: POL
Język: eng
Praca afiliowana przez PŁ
DOI:
11/37
Nr opisu: 0000045784
Autorzy: Piotr Zając, Melvin Galicia, Cezary Maj, Andrzej Napieralski.
Tytuł: Optimizing temperature distribution in modern processors through efficient floorplanning.
Cytata wydawnicza: THERMINIC 2014. 20th International Workshop on Thermal investigations of ICs and Systems. Proceedings.
Adres wydawniczy: [B.m.], 2014
Szczegóły: s.[1-6]
Uwagi wewnętrzne: DIG_045784. IEEE. Scopus.
Zasięg publikacji/pracy: M
Półrocze: 2
Kraj: GBR
Język: eng
Praca afiliowana przez PŁ
DOI:
12/37
Nr opisu: 0000046891
Autorzy: Piotr Zając, Cezary Maj, Michał Szermer, Mykhaylo Lobur, Andrzej Napieralski.
Tytuł: Analytical thermo-electric model of uncooled microbolometer.
Czasopismo: Mach. Dyn. Res. 2013 Vol.37 nr 3 s.99-105
p-ISSN: 2080-9948
Uwagi wewnętrzne: DIG_046891
Zasięg czasopisma: M
Kraj: POL
Kod współpracy międzynarodowej: UKR
Język: eng
Punktacja MNiSW: 6.000
Praca afiliowana przez PŁ
Adres url:
13/37
Nr opisu: 0000040174
Autorzy: Piotr Zając, Michał Szermer, Cezary Maj, Wojciech Zabierowski, Mykhaylo Melnyk, Oleh Matviykiv, Andrzej Napieralski, Mykhaylo Lobur.
Tytuł: Study of dynamic thermal phenomena during readout of uncooled titanium-based microbolometer.
Cytata wydawnicza: MEMSTECH 2013. 2013 Proceedings of IXth International Conference on Perspective Technologies and Methods in MEMS Design.
Adres wydawniczy: Lviv, 2013
Szczegóły: s.40-42
Lokalizacja dokumentu: Wł. Kat. Mikroelektron. i Tech. Inform.
Uwagi wewnętrzne: DIG_040174
Zasięg publikacji/pracy: M
Kraj: UKR
Kod współpracy międzynarodowej: UKR
Język: eng
Praca afiliowana przez PŁ
14/37
Nr opisu: 0000039603
Autorzy: Michał Szermer, Piotr Zając, Łukasz Kotynia, Cezary Maj, Piotr Pietrzak, Marcin Janicki, Andrzej Napieralski.
Tytuł: New methodology for thermal analysis of multi-core processors based on dedicated ASIC.
Czasopismo: Microelectron. J. 2013 Vol.44 nr 7 s.623-630
Uwagi:Special Section NANOTECH 2012. Santa Clara from 18 to 21 June 2012.
p-ISSN: 0959-8324
Uwagi wewnętrzne: DIG_039603. Science Direct. Scopus. Compendex.
Zasięg czasopisma: M
Półrocze: 1
Kraj: GBR
Język: eng
Czasopismo umieszczone na Liście Filadelfijskiej, wskaźnik Impact Factor ISI: 0.924
Praca afiliowana przez PŁ
DOI:
15/37
Nr opisu: 0000041464
Autorzy: Mykhaylo Melnyk, Andriy Kernytskyy, Mykhaylo Lobur, Michał Szermer, Piotr Zając, Wojciech Zabierowski.
Tytuł: Application of a genetic algorithm for dimension optimization of the MEMS-based accelerometer.
Cytata wydawnicza: MIXDES 2013. Proceedings of the 20th International Conference. Mixed Design of Integrated Circuits and Systems.
Adres wydawniczy: Łódź, 2013
Szczegóły: s.352-354
Lokalizacja dokumentu: Wł. Bibl. Politech. Łódz.
Zasięg publikacji/pracy: M
Kraj: POL
Kod współpracy międzynarodowej: UKR
Język: eng
Praca afiliowana przez PŁ
16/37
Nr opisu: 0000041462
Autorzy: Marcin Janicki, Piotr Zając, Michał Szermer, Andrzej Napieralski.
Tytuł: Influence of scaling on IC temperature in FinFET microprocessor technologies.
Cytata wydawnicza: MIXDES 2013. Proceedings of the 20th International Conference. Mixed Design of Integrated Circuits and Systems.
Adres wydawniczy: Łódź, 2013
Szczegóły: s.312-315
Lokalizacja dokumentu: Wł. Bibl. Politech. Łódz.
Zasięg publikacji/pracy: M
Kraj: POL
Język: eng
Praca afiliowana przez PŁ
17/37
Nr opisu: 0000041226
Autorzy: Michał Szermer, Łukasz Kotynia, Mariusz Jankowski, Piotr Zając, Marcin Janicki, Andrzej Napieralski.
Tytuł: Optimized topology of an ASIC for thermal analysis of multi-core processors.
Cytata wydawnicza: Nanotech. Conference and Expo 2013. Nanotechnology 2013: Electronics, Devices, Fabrication, MEMS, Fluidics and Computational. Technical Proceedings of the 2013 NSTI Nanotechnology Conference and Expo. An Interdisciplinary Integrative Forum on Nanotechnology, Microtechnology, Biotechnology and Cleantechnology. Vol.2.
Adres wydawniczy: Boston, 2013
Szczegóły: s.524-527
Lokalizacja dokumentu: Wł. Kat. Mikroelektron. i Tech. Inform.
Uwagi wewnętrzne: DIG_041226. Compendex.
Zasięg publikacji/pracy: M
Półrocze: USA
Kod współpracy międzynarodowej: eng
Praca afiliowana przez PŁ
18/37
Nr opisu: 0000041225
Autorzy: Marcin Janicki, Piotr Zając, Michał Szermer, Andrzej Napieralski.
Tytuł: Thermal coupling in technologies based on tri-gate transistors.
Cytata wydawnicza: Nanotech. Conference and Expo 2013. Nanotechnology 2013: Electronics, Devices, Fabrication, MEMS, Fluidics and Computational. Technical Proceedings of the 2013 NSTI Nanotechnology Conference and Expo. An Interdisciplinary Integrative Forum on Nanotechnology, Microtechnology, Biotechnology and Cleantechnology. Vol.2.
Adres wydawniczy: Boston, 2013
Szczegóły: s.520-523
Lokalizacja dokumentu: Wł. Kat. Mikroelektron. i Tech. Inform.
Uwagi wewnętrzne: DIG_041225. Compendex.
Zasięg publikacji/pracy: M
Półrocze: USA
Kod współpracy międzynarodowej: eng
Praca afiliowana przez PŁ
19/37
Nr opisu: 0000040173
Autorzy: Piotr Zając, Michał Szermer, Marcin Janicki, Cezary Maj, Piotr Pietrzak, Andrzej Napieralski.
Tytuł: Analysis of the effectiveness of core swapping in modern multicore processors.
Cytata wydawnicza: THERMINIC 2013. Proceedings. 19th International Workshop. Thermal Investigations of ICs and Systems.
Adres wydawniczy: Cottbus-Senftenberg, 2013
Szczegóły: s.385-388
Lokalizacja dokumentu: Wł. Kat. Mikroelektron. i Tech. Inform.
Uwagi wewnętrzne: DIG_040173. Compendex. Scopus.
Zasięg publikacji/pracy: M
Kraj: DEU
Język: eng
Praca afiliowana przez PŁ
DOI:
20/37
Nr opisu: 0000037102
Autorzy: Volodymyr Ladogubets, Oleksii Finogenov, Oleksandr Popov, Michał Szermer, Wojciech Zabierowski, Piotr Zając.
Tytuł: An approach to the size reduction for very large circuit equivalents of MEMS non-electrical parts' mathematical models.
Cytata wydawnicza: MEMSTECH' 2012. 2012 Proceedings of VIIIth International Conference on Perspective Technologies and Methods in MEMS Design.
Adres wydawniczy: Lviv, 2012
Szczegóły: s.174-177
Lokalizacja dokumentu: Wł. Kat. Mikroelektron. i Tech. Inform.
Uwagi wewnętrzne: DIG_037102
Zasięg publikacji/pracy: M
Kraj: UKR
Kod współpracy międzynarodowej: UKR
Język: eng
Praca afiliowana przez PŁ
21/37
Nr opisu: 0000037105
Autorzy: Piotr Zając, Cezary Maj, Michał Szermer, Wojciech Zabierowski, Andrzej Napieralski, Mykhaylo Lobur.
Tytuł: Electrothermal FEM simulation of uncooled titanium-based microbolometer.
Cytata wydawnicza: MEMSTECH' 2012. 2012 Proceedings of VIIIth International Conference on Perspective Technologies and Methods in MEMS Design.
Adres wydawniczy: Lviv, 2012
Szczegóły: s.192-194
Lokalizacja dokumentu: Wł. Kat. Mikroelektron. i Tech. Inform.
Uwagi wewnętrzne: DIG_037105
Zasięg publikacji/pracy: M
Kraj: UKR
Kod współpracy międzynarodowej: UKR
Język: eng
Praca afiliowana przez PŁ
22/37
Nr opisu: 0000037107
Autorzy: Mykhaylo Melnyk, Vasyl Teslyuk, Andriy Kernytskyy, Michał Szermer, Wojciech Zabierowski, Piotr Zając.
Tytuł: Subsystem for the computer-aided thermo-actuator design.
Cytata wydawnicza: MEMSTECH' 2012. 2012 Proceedings of VIIIth International Conference on Perspective Technologies and Methods in MEMS Design.
Adres wydawniczy: Lviv, 2012
Szczegóły: s.197-200
Lokalizacja dokumentu: Wł. Kat. Mikroelektron. i Tech. Inform.
Uwagi wewnętrzne: DIG_037107
Zasięg publikacji/pracy: M
Kraj: UKR
Kod współpracy międzynarodowej: UKR
Język: eng
Praca afiliowana przez PŁ
23/37
Nr opisu: 0000037004
Autorzy: Marcin Janicki, Michał Szermer, Andrzej Napieralski, Piotr Zając.
Tytuł: Technology migration and thermal coupling.
Cytata wydawnicza: MIXDES 2012. Proceedings of the 19th International Conference on Mixed Design of Integrated Circuits and Systems. [5th MRW 2012. Microwave and Radar Week. Conference Proceedings].
Adres wydawniczy: Łódź, 2012
Szczegóły: s.319-322
Lokalizacja dokumentu: Wł. Kat. Mikroelektron. i Tech. Inform.
Uwagi wewnętrzne: DIG_037004
Zasięg publikacji/pracy: M
Kraj: POL
Język: eng
Praca afiliowana przez PŁ
24/37
Nr opisu: 0000035363
Autorzy: Piotr Zając, Marcin Janicki, Michał Szermer, Piotr Pietrzak, Andrzej Napieralski.
Tytuł: Cache leakage power estimation using architectural model for 32 nm and 16 nm technology nodes.
Cytata wydawnicza: SEMI-THERM 2012. Twenty Eighth Annual IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium. Proceedings.
Adres wydawniczy: [B.m.], 2012
Szczegóły: s.308-312
p-ISBN: 978-1-4673-1111-3
Uwagi wewnętrzne: DIG_035363. IEEE. Compendex. Scopus.
Zasięg publikacji/pracy: M
Półrocze: 1
Kraj: USA
Język: eng
Praca afiliowana przez PŁ
DOI:
25/37
Nr opisu: 0000035364
Autorzy: Michał Szermer, Cezary Maj, Marcin Janicki, Piotr Zając, Andrzej Napieralski.
Tytuł: Test ASIC for investigation of thermal coupling in many-core architectures.
Cytata wydawnicza: SEMI-THERM 2012. Twenty Eighth Annual IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium. Proceedings.
Adres wydawniczy: [B.m.], 2012
Szczegóły: s.135-138
p-ISBN: 978-1-4673-1111-3
Uwagi wewnętrzne: DIG_035364. IEEE. Compendex. Scopus.
Zasięg publikacji/pracy: M
Półrocze: 1
Kraj: USA
Język: eng
Praca afiliowana przez PŁ
DOI:
26/37
Nr opisu: 0000028638
Autorzy: Jacques Henri Collet, Piotr Zając, Mihalis Psarakis, Dimitris Gizopoulos.
Tytuł: Chip self-organization and fault tolerance in massively defective multicore arrays.
Czasopismo: IEEE Trans. Dependable Secure Compu. 2011 Vol.8 nr 2 s.207-217
p-ISSN: 1545-5971
Uwagi wewnętrzne: DIG_028638. IEEE. Compendex. Scopus.
Zasięg czasopisma: M
Kraj: USA
Kod współpracy międzynarodowej: FRA, GRC
Język: eng
Czasopismo umieszczone na Liście Filadelfijskiej, wskaźnik Impact Factor ISI: 1.140
Punktacja MNiSW: 35.000
Praca afiliowana przez PŁ
27/37
Nr opisu: 0000030987
Autorzy: Piotr Zając, Andrzej Napieralski.
Tytuł: Estimating performance penalty for various fault-tolerant techniques in multicore processors.
Cytata wydawnicza: MIXDES 2011. Proceedings of the 18th International Conference on Mixed Design of Integrated Circuits and System.
Adres wydawniczy: Łódź, 2011
Szczegóły: s.490-495
Lokalizacja dokumentu: Wł. Bibl. Politech. Łódz.
Uwagi wewnętrzne: Compendex.
Półrocze: 1
Kraj: POL
Język: eng
Praca afiliowana przez PŁ
28/37
Nr opisu: 0000022635
Autorzy: E. Kolonis, M. Nicolaidis, D. Gizopoulos, M. Psarakis, Jacques Henri Collet, Piotr Zając.
Tytuł: Enhanced self-configurability and yield in multicore grids.
Cytata wydawnicza: IOLTS 2009. 15th IEEE International On-Line Testing Symposium.
Adres wydawniczy: [B.m.], 2009
Szczegóły: s.75-80
Uwagi wewnętrzne: DIG_022635. IEEE. Compendex. Referat oznaczony jako 5195986. Scopus.
Półrocze: 1
Kraj: PRT
Kod współpracy międzynarodowej: GRC, FRA
Język: eng
29/37
Nr opisu: 0000022789
Autorzy: Jacques Henri Collet, Mihalis Psarakis, Piotr Zając, Dimitris Gizopoulos, Andrzej Napieralski.
Tytuł: Comparison of fault-tolerance techniques for massively defective fine- and coarse-grained nanochips.
Cytata wydawnicza: MIXDES 2009. Proceedings of the 16th International Conference on Mixed Design of Integrated Circuits and Systems.
Adres wydawniczy: Łódź, 2009
Szczegóły: s.23-30
Lokalizacja dokumentu: 106700
Uwagi wewnętrzne: DIG_022789. IEEE. Compendex. Scopus.
Półrocze: 1
Kraj: POL
Kod współpracy międzynarodowej: FRA, GRC
Język: eng
30/37
Nr opisu: 0000024814
Autorzy: Piotr Zając.
Tytuł: Fault tolerance through self-configuration in nanoscale processors. A study of self-configuration mechanisms for multicore processors fabricated using nanoscale technologies.
Adres wydawniczy: [B.m.] : [B.w.], 2009
Szczegóły: 164 s.
p-ISBN: 978-3-639-20274-8
Półrocze: 2
Kraj: DEU
Język: eng
31/37
Nr opisu: 0000019669
Autorzy: Piotr Zając, Jacques Henri Collet, Andrzej Napieralski.
Tytuł: Self-configuration and reachability metrics in massively defective multiport chips.
Cytata wydawnicza: IOLTS 2008. 14th IEEE International On-Line Testing Symposium.
Adres wydawniczy: Los Alamitos, 2008
Szczegóły: s.219-224
Uwagi wewnętrzne: DIG_019669. IEEE. Scopus.
Półrocze: 2
Kraj: USA
Kod współpracy międzynarodowej: FRA
Język: eng
32/37
Nr opisu: 0000024813
Autorzy: Piotr Zając, Jacques Henri Collet, Jean Arlat, Yves Crouzet.
Tytuł: Fault tolerance of the input/output ports in massively defective multicore processor chips.
Cytata wydawnicza: WDSN 2008. 2nd Workshop on Dependable and Secure Nanocomputing. 38th Annual IEEE/IFIP International Conference on Dependable Systems and Networks. Supplementary.
Adres wydawniczy: [B.m.], 2008
Szczegóły: s.[1-6]
forma: odb.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Kat. Mikroelektron. i Tech. Inform.
Uwagi wewnętrzne: DIG_024813
Półrocze: 1
Kraj: USA
Język: eng
33/37
Nr opisu: 0000015703
Autorzy: Piotr Zając, Jacques Henri Collet, Jean Arlat, Yves Crouzet.
Tytuł: Resilience through self-configuration in massively defective NOCs.
Cytata wydawnicza: DATE 07. Workshop on Diagnostic Services in Network-on-Chips. Test (in conjunction with Design, Automation and Test in Europe).
Adres wydawniczy: [B.m.], 2007
Szczegóły: [s.1-3]
forma: odb.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Kat. Mikroelektron. i Tech. Inform.
Uwagi wewnętrzne: DIG_015703
Półrocze: 1
Kraj: FRA
Kod współpracy międzynarodowej: FRA
Język: eng
34/37
Nr opisu: 0000015820
Autorzy: Piotr Zając, Jacques Henri Collet, Yves Crouzet.
Tytuł: Resilience through self-configuration in the future massively defective nanochips.
Cytata wydawnicza: DSN 2007. Proceedings of the 37th Annual IEEE/IFIP International Conference on Dependable Systems and Network.
Adres wydawniczy: [B.m.], 2007
Szczegóły: [s.1-6]
forma: odb.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Kat. Mikroelektron. i Tech. Inform.
Uwagi wewnętrzne: DIG_015820
Półrocze: 1
Kraj: GBR
Kod współpracy międzynarodowej: FRA
Język: eng
35/37
Nr opisu: 0000015824
Autorzy: Jacques Henri Collet, Piotr Zając.
Tytuł: Resilience, production yield and self-configuration in the future massively defective nanochips.
Cytata wydawnicza: IOLTS 2007. 13th IEEE International On-Line Testing Symposium.
Adres wydawniczy: Los Alamitos, 2007
Szczegóły: [s.1]
forma: odb.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Kat. Mikroelektron. i Tech. Inform.
Uwagi wewnętrzne: DIG_015824
Półrocze: 2
Kraj: GRC
Kod współpracy międzynarodowej: FRA
Język: eng
36/37
Nr opisu: 0000015822
Autorzy: Piotr Zając, Jacques Henri Collet.
Tytuł: Production yield and self-configuration in the future massively defective nanochips.
Cytata wydawnicza: The 22nd IEEE Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems.
Adres wydawniczy: Los Alamitos, 2007
Szczegóły: s.197-205
forma: odb.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Kat. Mikroelektron. i Tech. Inform.
Uwagi wewnętrzne: DIG_015822
Półrocze: 2
Kraj: ITA
Kod współpracy międzynarodowej: FRA
Język: eng
37/37
Nr opisu: 0000009862
Autorzy: Jacques Henri Collet, Piotr Zając, Yves Crouzet, Andrzej Napieralski.
Tytuł: Contribution of communications to dependability in massively-defective general-purpose nanoarchitectures.
Cytata wydawnicza: IOLTS 2006. 12th International On-line Testing Symposium.
Adres wydawniczy: [B.m.], 2006
Szczegóły: s.219-224
Uwagi wewnętrzne: DIG_009862. IEEE. Scopus.
Półrocze: 1
Kraj: ITA
Kod współpracy międzynarodowej: FRA
Język: eng
Wyświetl ponownie stosując format:

Wyświetl/ukryj etykiety | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Nowe wyszukiwanie | Biblioteka PŁ