Bibliografia Dorobku Piśmienniczego Pracowników Politechniki Łódzkiej od 2004

1/30
Nr opisu: 0000044465
Autorzy: Marek Ossowski, Marek Korzybski.
Tytuł: Fast optimization schemes for feature selection in analog circuits fault diagnosis.
Tytuł równoległy: Prosta optymalizacja procesu selekcji cech w diagnostyce układów analogowych.
Czasopismo: Prz. Elektrotech. 2014 R.90 nr 7 s.65-69, streszcz.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Bibl. Politech. Łódz.
p-ISSN: 0033-2097
Uwagi wewnętrzne: Scopus.
Zasięg czasopisma: M
Kraj: POL
Język: eng
Punktacja MNiSW: 10.000
Praca afiliowana przez PŁ
DOI:
2/30
Nr opisu: 0000043811
Autorzy: Marek Korzybski, Marek Ossowski.
Tytuł: Soft fault diagnosis in analogue circuits based on the Pearson correlation.
Tytuł równoległy: Diagnostyka uszkodzeń parametrycznych z wykorzystaniem korelacji Pearsona.
Czasopismo: Prz. Elektrotech. 2014 R.90 nr 4 s.246-248, streszcz.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Bibl. Politech. Łódz.
p-ISSN: 0033-2097
Zasięg czasopisma: M
Kraj: POL
Język: eng
Punktacja MNiSW: 10.000
Praca afiliowana przez PŁ
DOI:
3/30
Nr opisu: 0000042858
Autorzy: Marek Ossowski, Marek Korzybski.
Tytuł: Improved ranking list classifier for analog circuits fault diagnosis.
Cytata wydawnicza: CPEE - AMTEE 2013. Joint conference Computational Problems of Electrical Engineering and Advanced Methods of the Theory of Electrical Engineering. Proceedings.
Adres wydawniczy: Plzen, 2013
Szczegóły: s.III-2
forma: odb.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Inst. Syst. Inż. Elektr.
Uwagi wewnętrzne: DIG_042858
Zasięg publikacji/pracy: M
Kraj: CZE
Język: eng
Praca afiliowana przez PŁ
4/30
Nr opisu: 0000042861
Autorzy: Marek Korzybski, Marek Ossowski.
Tytuł: Soft fault diagnosis based on the Pearson correlation.
Cytata wydawnicza: CPEE - AMTEE 2013. Joint conference Computational Problems of Electrical Engineering and Advanced Methods of the Theory of Electrical Engineering. Proceedings.
Adres wydawniczy: Plzen, 2013
Szczegóły: s.III-6
forma: odb.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Inst. Syst. Inż. Elektr.
Uwagi wewnętrzne: DIG_042861
Zasięg publikacji/pracy: M
Kraj: CZE
Język: eng
Praca afiliowana przez PŁ
5/30
Nr opisu: 0000038376
Autorzy: Marek Ossowski, Marek Korzybski.
Tytuł: Test points selection algorithms improving efficiency of analog circuit fault diagnosis.
Tytuł równoległy: Algorytmy doboru punktów testowych zwiększające efektywność diagnostyki uszkodzeń układów analogowych.
Czasopismo: Elektronika 2013 R.54 nr 2 s.13-17, streszcz.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Bibl. Politech. Łódz.
p-ISSN: 0033-2089
Zasięg czasopisma: M
Kraj: POL
Język: eng
Punktacja MNiSW: 5.000
Praca afiliowana przez PŁ
6/30
Nr opisu: 0000042866
Autorzy: Marek Ossowski, Marek Korzybski.
Tytuł: Algorytm selekcji cech wykorzystujący ewolucję różnicową.
Tytuł równoległy: Features selection algorithm based on differential evolution.
Cytata wydawnicza: IC-SPETO 2013. XXXVI Międzynarodowa Konferencja z Podstaw Elektrotechniki i Teorii Obwodów.
Adres wydawniczy: [B.m.], 2013
Szczegóły: s.87-88, sum.
forma: odb.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Inst. Syst. Inż. Elektr.
Uwagi wewnętrzne: DIG_042866
Zasięg publikacji/pracy: K
Kraj: POL
Język: pol
Praca afiliowana przez PŁ
7/30
Nr opisu: 0000038092
Autorzy: Marek Korzybski, Marek Ossowski.
Tytuł: An algorithm for fault diagnosis in analogue circuits based on correlation.
Tytuł równoległy: Algorytm diagnostyki błędów w układach analogowych bazujący na korelacji.
Czasopismo: Prz. Elektrotech. 2013 R.89 nr 2a s.282-284, streszcz.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Bibl. Politech. Łódz.
p-ISSN: 0033-2097
Zasięg czasopisma: M
Półrocze: 1
Kraj: POL
Język: eng
Punktacja MNiSW: 10.000
Praca afiliowana przez PŁ
8/30
Nr opisu: 0000038094
Autorzy: Marek Ossowski, Marek Korzybski.
Tytuł: Data mining based algorithm for analog circuits fault diagnosis.
Tytuł równoległy: Diagnostyka układów analogowych z wykorzystaniem technik drążenia danych.
Czasopismo: Prz. Elektrotech. 2013 R.89 nr 2a s.285-287, streszcz.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Bibl. Politech. Łódz.
p-ISSN: 0033-2097
Zasięg czasopisma: M
Półrocze: 1
Kraj: POL
Język: eng
Punktacja MNiSW: 10.000
Praca afiliowana przez PŁ
9/30
Nr opisu: 0000038920
Autorzy: Marek Korzybski, Marek Ossowski.
Tytuł: An algorithm for fault diagnosis in analogue circuits based on correlation.
Cytata wydawnicza: 13th International Workshop "Computational Problems of Electrical Engineering". Book of abstracts.
Adres wydawniczy: [B.m.], 2012
Szczegóły: s.20
forma: odb.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Inst. Syst. Inż. Elektr.
Uwagi wewnętrzne: DIG_038920
Zasięg publikacji/pracy: M
Kraj: POL
Język: eng
Praca afiliowana przez PŁ
10/30
Nr opisu: 0000038921
Autorzy: Marek Ossowski, Marek Korzybski.
Tytuł: Data mining based algorithm for analog circuits fault diagnosis.
Cytata wydawnicza: 13th International Workshop "Computational Problems of Electrical Engineering". Book of abstracts.
Adres wydawniczy: [B.m.], 2012
Szczegóły: s.21
forma: odb.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Inst. Syst. Inż. Elektr.
Uwagi wewnętrzne: DIG_038921
Zasięg publikacji/pracy: M
Kraj: POL
Język: eng
Praca afiliowana przez PŁ
11/30
Nr opisu: 0000038915
Autorzy: Marek Ossowski, Marek Korzybski.
Tytuł: Improving analog circuit fault diagnosis by testing points selection.
Cytata wydawnicza: ICSES 2012. 2012 International Conference on Signals and Electronic Systems (ICSES). The Conference Proceedings [Dokument elektroniczny].
Adres wydawniczy: [B.m.], 2012
Szczegóły: s.1-4Tryb dostępu: http://icses2012.pwr.wroc.pl/article/81.pdf [dostęp 09.04.2013].
Uwagi wewnętrzne: DIG_038915. IEEE.
Zasięg publikacji/pracy: M
Kraj: POL
Język: eng
Praca afiliowana przez PŁ
Adres url:
DOI:
12/30
Nr opisu: 0000038902
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas, Marek Korzybski.
Tytuł: Multiple catastrophic fault diagnosis of analog circuits considering the component tolerances.
Czasopismo: Int. J. Circuit Theory Appl. 2012 Vol.40 nr 10 s.1041-1052
p-ISSN: 0098-9886
Uwagi wewnętrzne: DIG_038902. Wiley.
Zasięg czasopisma: M
Kraj: GBR
Język: eng
Czasopismo umieszczone na Liście Filadelfijskiej, wskaźnik Impact Factor ISI: 1.293
Punktacja MNiSW: 30.000
Praca afiliowana przez PŁ
DOI:
13/30
Nr opisu: 0000030956
Autorzy: Marek Korzybski, Marek Ossowski.
Tytuł: Ewolucyjny dobór pobudzenia do diagnozowania uszkodzeń w układach analogowych.
Tytuł równoległy: Evolutionary stimuli selection for fault diagnosis in analog circuits.
Czasopismo: Prz. Elektrotech. 2011 nr 10 s.167-170, sum.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Bibl. Politech. Łódz.
p-ISSN: 0033-2097
Zasięg czasopisma: M
Półrocze: 2
Kraj: POL
Język: pol
Czasopismo umieszczone na Liście Filadelfijskiej, wskaźnik Impact Factor ISI: 0.244
Punktacja MNiSW: 15.000
Praca afiliowana przez PŁ
14/30
Nr opisu: 0000030666
Autorzy: Marek Korzybski.
Tytuł: Two-stage algorithm for soft fault diagnosis in analog dynamic circuits.
Tytuł równoległy: Dwustopniowy algorytm lokalizacji oraz identyfikacji uszkodzeń parametrycznych w analogowych układach dynamicznych.
Czasopismo: Prz. Elektrotech. 2011 R.87 nr 5 s.74-76, streszcz.
Uwagi:Computational Problems of Electrical Engineering.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Bibl. Politech. Łódz.
p-ISSN: 0033-2097
Zasięg czasopisma: M
Półrocze: 1
Kraj: POL
Język: eng
Czasopismo umieszczone na Liście Filadelfijskiej, wskaźnik Impact Factor ISI: 0.244
Punktacja MNiSW: 15.000
Praca afiliowana przez PŁ
15/30
Nr opisu: 0000032230
Autorzy: Marek Korzybski, Marek Ossowski.
Tytuł: Ewolucyjny dobór pobudzenia do diagnozowania uszkodzeń w układach analogowych.
Cytata wydawnicza: X Krajowa Konferencja Elektroniki. Materiały Konferencyjne.
Adres wydawniczy: Koszalin, 2011
Szczegóły: s.238 + 1 dysk optyczny (CD-ROM) [pełen tekst s.921-926]
Lokalizacja dokumentu: Wł. Inst. Elektron.
Uwagi wewnętrzne: DIG_032230
Półrocze: 1
Kraj: POL
Język: pol
Praca afiliowana przez PŁ
16/30
Nr opisu: 0000029329
Autorzy: Marek Korzybski.
Tytuł: Two-stage algorithm for soft fault diagnosis in analog dynamic circuits.
Cytata wydawnicza: CPEE'10. Computational Problems of Electrical Engineering. [Dokument elektroniczny].
Adres wydawniczy: Plzen, 2010
Szczegóły: 1 dysk optyczny (CD-ROM) [s.1-4], streszcz.
forma: odb.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Inst. Syst. Inż. Elektr.
Uwagi wewnętrzne: DIG_029329
Półrocze: 2
Kraj: CZE
Język: eng
Praca afiliowana przez PŁ
17/30
Nr opisu: 0000028319
Autorzy: Marek Korzybski.
Tytuł: Diagnozowanie uszkodzeń parametrycznych wykorzystujące FFT oraz metodę programowania wyrażeń ganetycznych.
Cytata wydawnicza: IX Krajowa Konferencja Elektroniki. Materiały Konferencyjne.
Adres wydawniczy: Koszalin, 2010
Szczegóły: s.55+ 1 dysk optyczny (CD-ROM) [pełen tekst s.181-186]
Lokalizacja dokumentu: Wł. Inst. Elektron.
Uwagi wewnętrzne: DIG_028319
Półrocze: 1
Kraj: POL
Język: pol
Praca afiliowana przez PŁ
18/30
Nr opisu: 0000024274
Autorzy: Marek Korzybski.
Tytuł: Dictionary method for multiple soft fault diagnosis in analog circuits with handling tolerances.
Cytata wydawnicza: ISTET'09. Proceedings of the XV International Sypmosium on Theoretical Electrical Engineering [Dokument elektroniczny].
Adres wydawniczy: [B.m.], 2009
Szczegóły: 1 dysk optyczny (CD-ROM) s.53-56
forma: odb.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Inst. Elektrotech. Teor., Metrol. i Materiałozn.
Uwagi wewnętrzne: DIG_024274
Półrocze: 2
Kraj: DEU
Język: eng
19/30
Nr opisu: 0000022605
Autorzy: Marek Korzybski.
Tytuł: Ewolucyjna metoda diagnozowania wielokrotnych uszkodzeń parametrycznych i katastroficznych.
Tytuł równoległy: Evolutionary method for multiple parametric and catastrofic fault diagnosis.
Czasopismo: Prz. Elektrotech. 2009 R.85 nr 11 s. 195-198, sum.
Lokalizacja dokumentu: P-309
p-ISSN: 0033-2097
Zasięg czasopisma: M
Półrocze: 2
Kraj: POL
Język: eng
Czasopismo umieszczone na Liście Filadelfijskiej
Punktacja MNiSW: 9.000
20/30
Nr opisu: 0000024278
Autorzy: Marek Korzybski.
Tytuł: Ewolucyjna metoda diagnozowania wielokrotnych uszkodzeń parametrycznych i katastroficznych.
Cytata wydawnicza: VIII Krajowa Konferencja Elektroniki. Materiały konferencyjne.
Adres wydawniczy: [B.m.], 2009
Szczegóły: s.287-292
forma: odb.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Inst. Elektrotech. Teor., Metrol. i Materiałozn.
Uwagi wewnętrzne: DIG_024278
Półrocze: 1
Kraj: POL
Język: pol
21/30
Nr opisu: 0000020102
Autorzy: Marek Korzybski.
Tytuł: Dictionary method for multiple soft and catastrophic fault diagnosis based on evolutionary computation.
Cytata wydawnicza: ICSES'08. International Conference on Signals and Electronic Systems. Conference proceedings.
Adres wydawniczy: [Kraków], 2008
Szczegóły: s.553-556
Lokalizacja dokumentu: Wł. Inst. Elektron.
Uwagi wewnętrzne: DIG_020102. IEEE. Compendex. Scopus.
Półrocze: 2
Kraj: POL
Język: eng
22/30
Nr opisu: 0000020171
Autorzy: Marek Korzybski.
Tytuł: Diagnozowanie wielokrotnych uszkodzeń parametrycznych w obwodach tranzystorowo-diodowych.
Cytata wydawnicza: Siódma Krajowa Konferencja Elektroniki. T.2.
Adres wydawniczy: Koszalin, 2008
Szczegóły: s.379-384, sum.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Inst. Elektron.
Uwagi wewnętrzne: DIG_020171
Półrocze: 1
Kraj: POL
Język: pol
23/30
Nr opisu: 0000018203
Autorzy: Marek Korzybski.
Tytuł: Fault diagnosis of analog circuits using evolutionary algorithms.
Tytuł równoległy: Opracowanie metod diagnostyki układów elektronicznych z wykorzystaniem technik ewolucyjnych.
Czasopismo: Zesz. Nauk. Politech. Łódz. Elektr. 2008 z.113 s.69-74, streszcz.
Uwagi:W serii gł. nr 1011. Oprócz dwóch artykułów na ss.5-16 i 17-27, wszystkie pozostałe to autoreferaty prac doktorskich.
Lokalizacja dokumentu: P-2090
p-ISSN: 0374-4817
Zasięg czasopisma: K
Półrocze: 2
Kraj: POL
Język: eng
Punktacja MNiSW: 2.000
24/30
Nr opisu: 0000017218
Autorzy: Marek Korzybski.
Tytuł: Multiple soft fault diagnosis of DC circuits using gene expression programming.
Cytata wydawnicza: IC-SPETO 2007. XXX Międzynarodowa Konferencja z Podstaw Elektrotechniki i Teorii Obwodów.
Adres wydawniczy: [B.m.], 2007
Szczegóły: s.153-154
forma: odb.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Inst. Elektrotech. Teor., Metrol. i Materiałozn.
Uwagi wewnętrzne: DIG_017218
Półrocze: 1
Kraj: POL
Język: eng
25/30
Nr opisu: 0000017280
Autorzy: Marek Korzybski, Marek Ossowski.
Tytuł: The selection of genetic algorithm parameters for soft fault diagnosis.
Tytuł równoległy: Dobór parametrów algorytmu genetycznego w diagnostyce uszkodzeń parametrycznych.
Czasopismo: Prz. Elektrotech. Konf. 2007 R.5 nr 2 s.272-275, streszcz.
forma: odb.
Uwagi:8th International Workshop Computational Problems of Electrical Engineering. Wilkasy, Poland, September 14-16, 2007.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Inst. Elektrotech. Teor., Metrol. i Materiałozn.
p-ISSN: 1731-6103
Uwagi wewnętrzne: DIG_017280
Zasięg czasopisma: M
Półrocze: 2
Kraj: POL
Język: eng
26/30
Nr opisu: 0000014451
Autorzy: Marek Korzybski.
Tytuł: Zastosowanie metody ewolucyjnej do lokalizacji i identyfikacji uszkodzeń.
Cytata wydawnicza: Szósta Krajowa Konferencja Elektroniki. T.1
Adres wydawniczy: Koszalin, 2007
Szczegóły: s.169-174
Lokalizacja dokumentu: Wł. Inst. Elektron.
Toż: 1 dysk optyczny CD-ROM
Uwagi wewnętrzne: DIG_014451
Półrocze: 1
Kraj: POL
Język: pol
27/30
Nr opisu: 0000009996
Autorzy: Marek Korzybski, Marek Ossowski.
Tytuł: Zastosowanie algorytmów genetycznych do wyznaczania optymalnego zbioru węzłów pomiarowych w diagnostyce uszkodzeń parametrycznych obwodów DC.
Tytuł równoległy: Genetic algorithms in an opitmal set of test nodes determination for soft fault diagnosis in DC circuits.
Cytata wydawnicza: IC-SPETO 2006. XXIX Międzynarodowa Konferencja z Podstaw Elektrotechniki i Teorii Obwodów. Vol.2
Adres wydawniczy: Gliwice, 2006
Szczegóły: s.479-480sum.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Samodz. Zakł. Sieci Komput.
Uwagi wewnętrzne: DIG_009996
Półrocze: 2
Kraj: POL
Język: pol
28/30
Nr opisu: 0000010218
Autorzy: Marek Korzybski, Marek Ossowski.
Tytuł: Determination of an optimal set of test nodes for soft fault diagnosis.
Cytata wydawnicza: ICSES'06. International Conference on Signals and Electronic Systems. Conference Proceedings. Vol.2.
Adres wydawniczy: Łódź, 2006
Szczegóły: s.575-578
Lokalizacja dokumentu: Wł. Inst. Elektron.
Uwagi wewnętrzne: DIG_010218. Compendex. Scopus.
Półrocze: 2
Kraj: POL
Język: eng
29/30
Nr opisu: 0000007644
Autorzy: Marek Ossowski, Marek Korzybski.
Tytuł: Hybrid evolutionary algorithms for DC analysis of nonlinear resistive ciruits.
Cytata wydawnicza: ISTET'05. Proceedings of the XIII International Sypmosium on Theoretical Electrical Engineering.
Adres wydawniczy: Lviv, 2005
Szczegóły: s.189-192
forma: odb.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Inst. Elektrotech. Teor., Metrol. i Materiałozn.
Uwagi wewnętrzne: DIG_007644
Półrocze: 2
Kraj: UKR
Język: eng
30/30
Nr opisu: 0000001001
Autorzy: Marek Korzybski.
Tytuł: Metoda identyfikacji parametrów liniowych i nieliniowych obwodów DC.
Tytuł równoległy: A method for parameter identification in linear and nonlinear DC circuit.
Cytata wydawnicza: IC-SPETO 2004. XXVII Międzynarodowa Konferencja z Podstaw Elektrotechniki i Teorii Obwodów.T.2.
Adres wydawniczy: [B.m.], 2004
Szczegóły: s.339-342
Lokalizacja dokumentu: Wł. Samodz. Zakł. Sieci Komput.
Uwagi wewnętrzne: DIG_001001
Półrocze: 1
Kraj: POL
Język: pol
Wyświetl ponownie stosując format:

Wyświetl/ukryj etykiety | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Nowe wyszukiwanie | Biblioteka PŁ