logo BPŁ logo PŁ

Bibliografia Dorobku Piśmienniczego Pracowników Politechniki Łódzkiej od 2004




Zapytanie: GOTSZALK TEODOR
Liczba odnalezionych rekordów: 8



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetl/ukryj etykiety | Wersja do druku | | | Nowe wyszukiwanie
1/8
Nr opisu: 0000030285
Autorzy: Mirosław Woszczyna, Paweł Zawierucha, Agata Masalska, Grzegorz Jóźwiak, Elżbieta Staryga, Teodor Gotszalk.
Tytuł: Tunneling/shear force microscopy using piezoelectric tuning forks for characterization of topography and local electric surface properties.
Czasopismo: Ultramicroscopy 2010 Vol.110 s.877-880
forma: odb.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Inst. Fiz.
p-ISSN: 0304-3991

Uwagi wewnętrzne: DIG_030285
Zasięg czasopisma: M
Kraj: NLD
Język: eng
Czasopismo umieszczone na Liście Filadelfijskiej, wskaźnik Impact Factor ISI: 2.063
Punktacja MNiSW: 32.000
Praca afiliowana przez PŁ
2/8
Nr opisu: 0000018702
Autorzy: Mirosław Woszczyna, Agata Masalska, Paweł Zawierucha, Dagmara Jarzyńska, Elżbieta Staryga, Teodor Gotszalk.
Tytuł: Badanie lokalnych właściwości elektrycznych powierzchni za pomocą modularnego mikroskopu bliskich oddziaływań z wykorzystaniem kwarcowego rezonatora piezoelektrycznego jako czujnika nanooddziaływań ostrze-powierzchnia.
Cytata wydawnicza: II Krajowa Konferencja Nanotechnologii. Książka streszczeń.
Adres wydawniczy: [B.m.], 2008
Szczegóły: s.[1]
forma: odb.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Inst. Fiz.
Uwagi wewnętrzne: DIG_018702
Półrocze: 1
Kraj: POL
Język: pol
3/8
Nr opisu: 0000016651
Autorzy: Dagmara Jarzyńska, Elżbieta Staryga, Zbigniew Znamirowski, Kazimierz Fabisiak, Teodor Gotszalk, Mirosław Woszczyna, Włodzimierz Strzelecki, Maciej Dłużniewski.
Tytuł: Field emission and microstructural characterization of diamond films deposited by HF CVD method.
Tytuł równoległy: Emisja polowa i charakterystyka mikrostruktury warstw diamentowych nanoszonych przy użyciu metody HF CVD.
Czasopismo: Sci. Bull. Tech. Univ. Lodz Phys. 2007 Vol.28 s.13-26, streszcz.
Uwagi:W serii gł. nr 1010.
Lokalizacja dokumentu: P-2376
p-ISSN: 1505-1013

Zasięg czasopisma: K
Półrocze: 1
Kraj: POL
Kod współpracy międzynarodowej: USA
Język: eng
4/8
Nr opisu: 0000010081
Autorzy: Dagmara Jarzyńska, Zbigniew Znamirowski, Elżbieta Staryga, Teodor Gotszalk, M. Woszczyna, Kazimierz Fabisiak.
Tytuł: Diamond films synthesized by HF CVD as material for electron emitter.
Cytata wydawnicza: Vacuum and Plasma Surface Engineering. International Conference. Book of Abstracts.
Adres wydawniczy: Liberec, 2006
Szczegóły: s.25-26
Lokalizacja dokumentu: Wł. Inst. Elektron.
Uwagi wewnętrzne: DIG_010081
Półrocze: 2
Kraj: CZE
Język: eng
5/8
Nr opisu: 0000005629
Autorzy: Teodor Gotszalk, Andrzej Sikora, Krzysztof Kolanek, Roman Szeloch, Jan Szmidt, Piotr Grabiec, Ivo W. Rangelow, Stanisław Mitura.
Tytuł: Metody mikroskopii bliskiego pola od mikro do nanoelektroniki: diagnostyka, wytwarzanie.
Cytata wydawnicza: Czwarta Krajowa Konferencja Elektroniki. Materiały konferencji. T.1.
Adres wydawniczy: Koszalin, 2005
Szczegóły: s.33-43
Lokalizacja dokumentu: Wł. Inst. Elektron.
Uwagi wewnętrzne: DIG_005629
Półrocze: 1
Kraj: POL
Kod współpracy międzynarodowej: DEU
Język: pol
6/8
Nr opisu: 0000005086
Autorzy: Teodor Gotszalk, Andrzej Sikora, Krzysztof Kolanek, Roman Szeloch, Jan Szmidt, Piotr Grabiec, Ivo Rangelow, Stanisław Mitura.
Tytuł: Metody mikroskopii bliskiego pola od mikro- do nanoelektroniki: diagnostyka, wytwarzanie.
Tytuł równoległy: Scanning probe microscopy methods in micro- and nanoelectronics: diagnostics and fabrication.
Czasopismo: Elektronika 2005 R.46 nr 11 s.14-18, sum.
Lokalizacja dokumentu: P-1719
p-ISSN: 0033-2089

Zasięg czasopisma: K
Półrocze: 2
Kraj: POL
Kod współpracy międzynarodowej: DEU
Język: pol
7/8
Nr opisu: 0000006073
Autorzy: Ryszard Gronau, Jan Szmidt, Teodor Gotszalk, Andrzej Marendziak, Piotr Konarski, Adam Rylski.
Tytuł: Zastosowanie technik plazmowych do płytkiej implantacji jonów.
Cytata wydawnicza: ELTE 2004. VIII Konferencja Naukowa "Technologia Elektronowa". Materiały konferencyjne [Dokument elektroniczny].
Adres wydawniczy: Aleksandrów Łódz., 2005
Szczegóły: 1 dysk optyczny (CD-ROM) E:/2004 Referaty CD.pdf s.113-116
Lokalizacja dokumentu: Wł. Inst. Elektron.
Uwagi wewnętrzne: DIG_006073
Półrocze: 1
Kraj: POL
Język: pol
8/8
Nr opisu: 0000000455
Autorzy: Ryszard Gronau, Jan Szmidt, Teodor Gotszalk, Andrzej Marendziak, Piotr Konarski, Adam Rylski.
Tytuł: Zastosowanie technik plazmowych do płytkiej implantacji jonów.
Tytuł równoległy: Applications of plasma technique for shallow ion implantation.
Czasopismo: Elektronika 2004 R.45 nr 10 s.11-12, sum.
Lokalizacja dokumentu: P-1719
p-ISSN: 0033-2089

Zasięg czasopisma: M
Półrocze: 2
Kraj: POL
Język: pol
  Wyświetl ponownie stosując format:
Wyświetl/ukryj etykiety | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Nowe wyszukiwanie | Biblioteka PŁ