logo BPŁ logo PŁ

Bibliografia Dorobku Piśmienniczego Pracowników Politechniki Łódzkiej od 2004




Zapytanie: DANIEL MARCIN
Liczba odnalezionych rekordów: 13



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetl/ukryj etykiety | Wersja do druku | | | Nowe wyszukiwanie
1/13
Nr opisu: 0000033308
Autorzy: Włodzimierz Fiks, Marcin Daniel.
Typ patentu: Patent
Kraj opatentowania: Polska
Numer patentu: 210540
Międzynarodowa klasyfikacja patentowa Int Cl./sup: Int.Cl. G01N 3/56 (2006.01)
Tytuł patentu: Sposób badania wytrzymałości ściernic.
Właściciel, kraj: Politechnika Łódzka. Polska
Data opublikowania: Opubl. 31.01.2012
Kraj: POL
Język: pol
2/13
Nr opisu: 0000011067
Autorzy: Włodzimierz Fiks, Marcin Daniel.
Tytuł: Automatyzacja pomiaru wytrzymałości ściernic.
Tytuł równoległy: Automatization of grinding wheel strength measurement.
Cytata wydawnicza: XXIX Naukowa Szkoła Obróbki Ściernej.
Adres wydawniczy: Gdynia, 2006
Szczegóły: s.99-102sum.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Kat. Technol. Masz.
Uwagi wewnętrzne: DIG_011067
Półrocze: 2
Kraj: POL
Język: pol
3/13
Nr opisu: 0000003648
Autorzy: Marcin Daniel, Marcin Janicki, W. Wróblewski, A. Dybko, Z. Brzózka, Andrzej Napieralski.
Tytuł: Ion selective transistor modelling for behavioural simulations.
Cytata wydawnicza: AutMoNet 2004. 2nd International IWA Conference on Automation in Water Quality Monitoring. Proceedings.
Adres wydawniczy: [B.m.], 2004
Szczegóły: s.37-44
forma: odb.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Kat. Mikroelektron. i Tech. Inform.
Uwagi wewnętrzne: DIG_003648
Półrocze: 1
Kraj: AUT
Język: eng
4/13
Nr opisu: 0000000590
Autorzy: Marcin Janicki, Marcin Daniel, Andrzej Napieralski.
Tytuł: Szacowanie składu mieszaniny jonów przy użyciu dedykowanych algorytmów do rozwiązywania problemów adwrotnych
Tytuł równoległy: Application of inverse problem algorithm for estimation of ion mixture composition
Czasopismo: Elektronika 2004 R.45 nr 11 s.5-8, sum.
Uwagi:XI Międzynarodowa Konferencja MIXED. Szczecin, 24-26 czerwca 2004
Lokalizacja dokumentu: P-1719
p-ISSN: 0033-2089

Zasięg czasopisma: M
Półrocze: 1
Kraj: POL
Język: pol
5/13
Nr opisu: 0000000617
Autorzy: Marcin Janicki, Marcin Daniel, Michał Szermer, Andrzej Napieralski.
Tytuł: Ion sensitive field effect transistor modelling for multidomain simulation purposes
Czasopismo: Microelectron. J. 2004 Vol.35 nr 10 s.831-840
p-ISSN: 0959-8324

Uwagi wewnętrzne: DIG_000617
Zasięg czasopisma: M
Półrocze: 2
Kraj: GBR
Język: eng
Czasopismo umieszczone na Liście Filadelfijskiej
6/13
Nr opisu: 0000003669
Autorzy: Marcin Daniel, Marcin Janicki, Michał Szermer, Andrzej Napieralski.
Tytuł: Multidomain modelling and practical verification of semiconductor ion-selective sensors for CAD.
Czasopismo: Mikroelektron. Inform. Pr. Nauk. Wydz. Elektrotech. Elektron. Politech. Łódz. 2004 nr 4 s.35-40
Uwagi:Konferencja Katedry Mikroelektroniki i Technik Informatycznych. Ślesin 2004.
Lokalizacja dokumentu: P-3810
p-ISSN: brak

Uwagi wewnętrzne: DIG_003669
Zasięg czasopisma: K
Półrocze: 2
Kraj: POL
Język: eng
7/13
Nr opisu: 0000003714
Autorzy: Michał Szermer, Piotr Pietrzak, Marcin Daniel, Andrzej Napieralski.
Tytuł: Stanowisko pomiarowe do badania przetworników analogowo-cyfrowych z interfejsem użytkownika opracowanym w środowisku Labview.
Czasopismo: Mikroelektron. Inform. Pr. Nauk. Wydz. Elektrotech. Elektron. Politech. Łódz. 2004 nr 4 s.197-203
Uwagi:Konferencja Katedry Mikroelektroniki i Technik Informatycznych. Ślesin 2004.
Lokalizacja dokumentu: P-3810
p-ISSN: brak

Uwagi wewnętrzne: DIG_003714
Zasięg czasopisma: K
Półrocze: 2
Kraj: POL
Język: pol
8/13
Nr opisu: 0000003579
Autorzy: Marcin Janicki, Marcin Daniel, Andrzej Napieralski.
Tytuł: Application of inverse problem algorithm for estimation of ion mixture composition.
Cytata wydawnicza: MIXDES 2004. Mixed Design of Integrated Circuits and Systems. Proceedings of the 11th International Conference.
Adres wydawniczy: Łódź, 2004
Szczegóły: s.337-342
Lokalizacja dokumentu: 99850
Uwagi wewnętrzne: DIG_003579
Półrocze: 1
Kraj: POL
Język: eng
9/13
Nr opisu: 0000003580
Autorzy: Michał Szermer, Piotr Pietrzak, Marcin Daniel, Andrzej Napieralski.
Tytuł: Laboratory measurement stand of analogue to digital converters with application of LABVIEW environment.
Cytata wydawnicza: MIXDES 2004. Mixed Design of Integrated Circuits and Systems. Proceedings of the 11th International Conference.
Adres wydawniczy: Łódź, 2004
Szczegóły: s.392-397
Lokalizacja dokumentu: 99850
Uwagi wewnętrzne: DIG_003580
Półrocze: 1
Kraj: POL
Język: eng
10/13
Nr opisu: 0000003653
Autorzy: Marcin Daniel, Michał Szermer, Marcin Janicki, Andrzej Napieralski.
Tytuł: Modeling and practical verification of the ionophore based chemically modified field effect transistor.
Cytata wydawnicza: NSTI Nanotech 2004. The Nanotechnology Conference and Trade Show. Vol.1
Adres wydawniczy: [B.m.], 2004
Szczegóły: s.438-442
forma: odb.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Kat. Mikroelektron. i Tech. Inform.
Uwagi wewnętrzne: DIG_003653
Półrocze: 1
Kraj: USA
Język: eng
11/13
Nr opisu: 0000000624
Autorzy: Marcin Janicki, Marcin Daniel, Andrzej Napieralski.
Tytuł: Estimation of ion mixture composition with chemically modified field effect transistors
Cytata wydawnicza: Proceedings-2004 24th International Conference on Microelectronics, MIEL 2004
Adres wydawniczy: [B.m.] : IEEE Electr. Dev. Soc., 2004
Szczegóły: s.193-196
Uwagi wewnętrzne: DIG_000624; Opis na podstawie bazy Compendex, IEEE
Półrocze: 1
Kraj: UNC
Język: eng
12/13
Nr opisu: 0000003660
Autorzy: Marcin Janicki, Marcin Daniel, Andrzej Napieralski.
Tytuł: Temperature dependent model of ion selective transistor for multidomain simulations.
Cytata wydawnicza: THERMINIC. International Workshop on Thermal Investigations of ICS and Systems.
Adres wydawniczy: [B.m.], 2004
Szczegóły: s.85-90
forma: odb.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Kat. Mikroelektron. i Tech. Inform.
Uwagi wewnętrzne: DIG_003660
Półrocze: 2
Kraj: FRA
Język: eng
13/13
Nr opisu: 0000001437
Autorzy: Marcin Daniel, Marcin Janicki, W. Wróblewski, A. Dybko, Z. Brzózka, Andrzej Napieralski.
Tytuł: Ion selective transistor modelling for behavioural simulations.
Czasopismo: Water Sci. Technol. 2004 Vol.50 nr 11 s.115-123
p-ISSN: 0273-1223

Uwagi wewnętrzne: DIG_001437. Compendex.
Zasięg czasopisma: M
Półrocze: 2
Kraj: GBR
Język: eng
Czasopismo umieszczone na Liście Filadelfijskiej
  Wyświetl ponownie stosując format:
Wyświetl/ukryj etykiety | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Nowe wyszukiwanie | Biblioteka PŁ