logo BPŁ logo PŁ

Bibliografia Dorobku Piśmienniczego Pracowników Politechniki Łódzkiej od 2004




Zapytanie: MICROELECTRON RELIAB
Liczba odnalezionych rekordów: 6



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetl/ukryj etykiety | Wersja do druku | | | Nowe wyszukiwanie
1/6
Nr opisu: 0000048015
Autorzy: Paweł Łęczycki, Artur Andrzejczak, Piotr Pietrzak, Bartosz Pękosławski, Andrzej Napieralski.
Tytuł: Extended Sensor Reliability Evaluation Method in multi-sensor control systems.
Czasopismo: Microelectron. Reliab. 2015 Vol.55 nr 3-4 s.671-678
p-ISSN: 0026-2714
e-ISSN: 1872-941X

Uwagi wewnętrzne: DIG_048015. Elsevier. Scopus.
Zasięg czasopisma: M
Kraj: GBR
Język: eng
Czasopismo umieszczone na Liście Filadelfijskiej
Praca afiliowana przez PŁ
DOI:
2/6
Nr opisu: 0000045817
Autorzy: Gilbert De Mey, Mariusz Felczak, Bogusław Więcek.
Tytuł: Modelling and IR measurement of the electronic substrate thermal conductivity.
Czasopismo: Microelectron. Reliab. 2015 Vol.55 nr 1 s.138-142
p-ISSN: 0026-2714
e-ISSN: 1872-941X

Uwagi wewnętrzne: DIG_045817. ScienceDirect. Scopus. Compendex.
Zasięg czasopisma: M
Kraj: GBR
Kod współpracy międzynarodowej: BEL
Język: eng
Czasopismo umieszczone na Liście Filadelfijskiej
Praca afiliowana przez PŁ
DOI:
3/6
Nr opisu: 0000029687
Autorzy: Mariusz Felczak, Bogusław Więcek.
Tytuł: Application of genetic algorithms for electronic devices placement in structures with heat conduction through the substrate.
Czasopismo: Microelectron. Reliab. 2011 Vol.51 nr 2 s.453-459
Uwagi:The 2010 ROCS (Reliability Of Compound Semiconductors) Workshop. Portland, Oregon, [USA], May 17, 2010.
p-ISSN: 0026-2714

Uwagi wewnętrzne: DIG_029687. Elsevier. Scopus.
Zasięg czasopisma: M
Kraj: GBR
Język: eng
Czasopismo umieszczone na Liście Filadelfijskiej, wskaźnik Impact Factor ISI: 1.167
Punktacja MNiSW: 20.000
Praca afiliowana przez PŁ
4/6
Nr opisu: 0000032839
Autorzy: Marcin Janicki, Jędrzej Banaszczyk, Bjorn Vermeersch, Gilbert De Mey, Andrzej Napieralski.
Tytuł: Generation of reduced dynamic thermal models of electronic systems from time constant spectra of transient temperature responses.
Czasopismo: Microelectron. Reliab. 2011 Vol.51 nr 8 s.1351-1355
p-ISSN: 0026-2714

Uwagi wewnętrzne: DIG_032839. Elsevier. Scopus.
Zasięg czasopisma: M
Kraj: GBR
Kod współpracy międzynarodowej: BEL
Język: eng
Czasopismo umieszczone na Liście Filadelfijskiej, wskaźnik Impact Factor ISI: 1.167
Punktacja MNiSW: 20.000
Praca afiliowana przez PŁ
Adres url:
DOI:
5/6
Nr opisu: 0000022653
Autorzy: Mariusz Felczak, Bogusław Więcek, Gilbert De Mey.
Tytuł: Optimal placement of electronic devices in forced convective cooling conditions.
Czasopismo: Microelectron. Reliab. 2009 Vol.49 nr 12 s.1537-1545
p-ISSN: 0026-2714

Uwagi wewnętrzne: DIG_022653. Science Direct. Compendex. Scopus.
Zasięg czasopisma: M
Półrocze: 2
Kraj: GBR
Kod współpracy międzynarodowej: BEL
Język: eng
Czasopismo umieszczone na Liście Filadelfijskiej, wskaźnik Impact Factor ISI: 1.117
Punktacja MNiSW: 27.000
6/6
Nr opisu: 0000005151
Autorzy: Jarosław Legierski, Bogusław Więcek, Gilbert De Mey.
Tytuł: Measurements and simulations of transient characteristics of heat pipes.
Czasopismo: Microelectron. Reliab. 2006 Vol.46 nr 1 s.109-115
p-ISSN: 0026-2714

Uwagi wewnętrzne: DIG_005151. Science Direct. EBSCO. Compendex. Scopus.
Zasięg czasopisma: M
Półrocze: 1
Kraj: GBR
Kod współpracy międzynarodowej: BEL
Język: eng
Czasopismo umieszczone na Liście Filadelfijskiej
  Wyświetl ponownie stosując format:
Wyświetl/ukryj etykiety | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Nowe wyszukiwanie | Biblioteka PŁ