logo BPŁ logo PŁ

Bibliografia Dorobku Piśmienniczego Pracowników Politechniki Łódzkiej od 2004




Zapytanie: ZAWIEJA MARTA
Liczba odnalezionych rekordów: 3



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetl/ukryj etykiety | Wersja do druku | | | Nowe wyszukiwanie
1/3
Nr opisu: 0000005980
Autorzy: Marta Zawieja, Krzysztof Ślusarczyk, Andrzej Napieralski.
Tytuł: Electromagnetic compatibility - immunity test of programmable controllers.
Cytata wydawnicza: CADSM 2005. The Experience of Designing and Application of CAD Systems in Microelectronics. Proceedings of the VIIIth International Conference.
Adres wydawniczy: , 2005
Szczegóły: s.224-227
forma: odb.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Kat. Mikroelektron. i Tech. Inform.
Uwagi wewnętrzne: DIG_005980
Półrocze: 1
Kraj: UKR
Język: eng
2/3
Nr opisu: 0000005862
Autorzy: Marta Zawieja.
Tytuł: Modelowanie i symulacja udarów napięciowych i prądowych w języku VHDL-AMS.
Czasopismo: Mikroelektron. Inform. Pr. Nauk. Wydz. Elektrotech. Elektron. Politech. Łódz. 2005 nr 5 s.11-14
Uwagi:Konferencja Katedry Mikroelektroniki i Technik Informatycznych. Mikorzyn 2005.
Lokalizacja dokumentu: P-3810
Uwagi wewnętrzne: ISBN 83-922632-0-0
Zasięg czasopisma: K
Półrocze: 1
Kraj: POL
Język: pol
3/3
Nr opisu: 0000004900
Autorzy: Marta Zawieja.
Tytuł: Modelowanie wybranych impulsowych zaburzeń przewodzonych w języku VHDL-AMS.
Tytuł równoległy: Numerical modeling of ESD and burst simulators in VHDL-AMS language.
Czasopismo: Zesz. Nauk. Politech. Łódz. Elektr. 2005 z.103 s.61-68, sum.
Uwagi:W serii gł. nr 962. IV Krajowe Sympozjum Kompatybilność Elektromagnetyczna w Elektrotechnice i Elektronice. EMC'05.
Lokalizacja dokumentu: P-2090
p-ISSN: 0374-4817

Zasięg czasopisma: K
Półrocze: 2
Kraj: POL
Język: pol
  Wyświetl ponownie stosując format:
Wyświetl/ukryj etykiety | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Nowe wyszukiwanie | Biblioteka PŁ