logo BPŁ logo PŁ

Bibliografia Dorobku Piśmienniczego Pracowników Politechniki Łódzkiej od 2004




Zapytanie: SIKORA ANDRZEJ
Liczba odnalezionych rekordów: 4



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetl/ukryj etykiety | Wersja do druku | | | Nowe wyszukiwanie
1/4
Nr opisu: 0000030471
Autorzy: Marcin Palewicz, Agnieszka Iwan, Maciej Sibiński, Andrzej Sikora, Bolesław Mazurek.
Tytuł: Organic photovoltaic devices based on polyazomethine and fulerene.
Czasopismo: Energy Procedia 2011 Vol.3 s.84-91
Uwagi:E-MRS Fall Meeting 2010. Symposium C "Materials Devices and Economics Issues for Tomorrow's Photovoltaics". Warsaw, Poland, 13-17 September, 2010.
p-ISSN: 1876-6102

Uwagi wewnętrzne: DIG_030471. Elsevier. Brak skrótu czasopisma w bazie ISSN. Scopus. Compendex.
Zasięg czasopisma: M
Kraj: NLD
Język: eng
Praca afiliowana przez PŁ
2/4
Nr opisu: 0000033877
Autorzy: Agnieszka Iwan, Ewa Schab-Balcerzak, Mariola Siwy, Andrzej Sikora, Marcin Palewicz, Henryk Janeczek, Maciej Sibiński.
Tytuł: New aliphatic-aromatic tetraphenylphthalic-based diimides: thermal, optical and electrical study.
Czasopismo: Opt. Mater. 2011 Vol.33 nr 6 s.958-967
p-ISSN: 0925-3467

Uwagi wewnętrzne: DIG_033877. Elsevier. Compendex. Scopus.
Zasięg czasopisma: M
Kraj: NLD
Język: eng
Czasopismo umieszczone na Liście Filadelfijskiej, wskaźnik Impact Factor ISI: 2.023
Punktacja MNiSW: 30.000
Praca afiliowana przez PŁ
DOI:
3/4
Nr opisu: 0000005629
Autorzy: Teodor Gotszalk, Andrzej Sikora, Krzysztof Kolanek, Roman Szeloch, Jan Szmidt, Piotr Grabiec, Ivo W. Rangelow, Stanisław Mitura.
Tytuł: Metody mikroskopii bliskiego pola od mikro do nanoelektroniki: diagnostyka, wytwarzanie.
Cytata wydawnicza: Czwarta Krajowa Konferencja Elektroniki. Materiały konferencji. T.1.
Adres wydawniczy: Koszalin, 2005
Szczegóły: s.33-43
Lokalizacja dokumentu: Wł. Inst. Elektron.
Uwagi wewnętrzne: DIG_005629
Półrocze: 1
Kraj: POL
Kod współpracy międzynarodowej: DEU
Język: pol
4/4
Nr opisu: 0000005086
Autorzy: Teodor Gotszalk, Andrzej Sikora, Krzysztof Kolanek, Roman Szeloch, Jan Szmidt, Piotr Grabiec, Ivo Rangelow, Stanisław Mitura.
Tytuł: Metody mikroskopii bliskiego pola od mikro- do nanoelektroniki: diagnostyka, wytwarzanie.
Tytuł równoległy: Scanning probe microscopy methods in micro- and nanoelectronics: diagnostics and fabrication.
Czasopismo: Elektronika 2005 R.46 nr 11 s.14-18, sum.
Lokalizacja dokumentu: P-1719
p-ISSN: 0033-2089

Zasięg czasopisma: K
Półrocze: 2
Kraj: POL
Kod współpracy międzynarodowej: DEU
Język: pol
  Wyświetl ponownie stosując format:
Wyświetl/ukryj etykiety | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Nowe wyszukiwanie | Biblioteka PŁ