logo BPŁ logo PŁ

Bibliografia Dorobku Piśmienniczego Pracowników Politechniki Łódzkiej od 2004




Zapytanie: SIDYK PIOTR
Liczba odnalezionych rekordów: 9



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetl/ukryj etykiety | Wersja do druku | | | Nowe wyszukiwanie
1/9
Nr opisu: 0000017277
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Piotr Sidyk, Stanisław Hałgas.
Tytuł: A method for multiple fault diagnosis in dynamic analogue circuits.
Cytata wydawnicza: ECCTD 2007. 18th European Conference on Circuit Theory and Design 2007.
Adres wydawniczy: [B.m.], 2007
Szczegóły: s.834-837
Uwagi wewnętrzne: DIG_017277. IEEE. Compendex. Scopus.
Półrocze: 2
Kraj: ESP
Język: eng
2/9
Nr opisu: 0000013890
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas, Piotr Sidyk.
Tytuł: Metoda wykrywania uszkodzeń parametrycznych w układach tranzystorowych.
Tytuł równoległy: Soft fault diagnosis of transistor circuits.
Czasopismo: Elektronika 2007 R.48 nr 11 s.31-33, sum.
Uwagi:VI Krajowa Konferencja Elektroniki.
Lokalizacja dokumentu: P-1719
p-ISSN: 0033-2089

Zasięg czasopisma: M
Półrocze: 2
Kraj: POL
Język: pol
3/9
Nr opisu: 0000017279
Autorzy: Piotr Sidyk.
Tytuł: Ambiguity groups in linear dynamic analog circuit.
Tytuł równoległy: Grupy niejednoznaczności w liniowych układach analogowych.
Czasopismo: Prz. Elektrotech. Konf. 2007 R.5 nr 2 s.255-258, streszcz.
forma: odb.
Uwagi:8th International Workshop Computational Problems of Electrical Engineering. Wilkasy, Poland, September 14-16, 2007.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Inst. Elektrotech. Teor., Metrol. i Materiałozn.
p-ISSN: 1731-6103

Uwagi wewnętrzne: DIG_017279
Zasięg czasopisma: M
Półrocze: 2
Kraj: POL
Język: eng
4/9
Nr opisu: 0000014449
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas, Piotr Sidyk.
Tytuł: Metoda wykrywania uszkodzeń parametrycznych w układach tranzystorowych.
Cytata wydawnicza: Szósta Krajowa Konferencja Elektroniki. T.1
Adres wydawniczy: Koszalin, 2007
Szczegóły: s.113-118sum.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Inst. Elektron.
Toż: 1 dysk optyczny CD-ROM
Uwagi wewnętrzne: DIG_014449
Półrocze: 1
Kraj: POL
Język: pol
5/9
Nr opisu: 0000014081
Autorzy: Piotr Sidyk.
Tytuł: Zastosowanie aproksymacji wielomianowej do weryfikacji grup niejednoznaczności występujących w układach analogowych.
Tytuł równoległy: Using poynomial approximation for ambiguity group verification.
Cytata wydawnicza: ZKwE'2007. XII Conference Computer Applications in Electrical Engineering. Proceedings.
Adres wydawniczy: Poznań, 2007
Szczegóły: s.113-114sum.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Inst. Elektroenerg.
Uwagi wewnętrzne: DIG_014081
Półrocze: 1
Kraj: POL
Język: pol
6/9
Nr opisu: 0000009981
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Piotr Sidyk.
Tytuł: Tracing parametric characteristics in nonlinear circuits using SPICE-oriented approach.
Tytuł równoległy: Wyznaczanie charakterystyk parametrycznych w układach nieliniowych z wykorzystaniem programu SPICE.
Cytata wydawnicza: IC-SPETO 2006. XXIX Międzynarodowa Konferencja z Podstaw Elektrotechniki i Teorii Obwodów. Vol.2
Adres wydawniczy: Gliwice, 2006
Szczegóły: s.283-286streszcz.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Samodz. Zakł. Sieci Komput.
Uwagi wewnętrzne: DIG_009981
Półrocze: 2
Kraj: POL
Język: eng
7/9
Nr opisu: 0000009858
Tytuł: ICSES'06. International Conference on Signals and Electronic Systems. Conference Proceedings. Łódź, Poland, September 17-20, 2006.
Odpowiedzialni: Ed. Tadeusiewicz Michał, Kuczyński Andrzej, Ossowski Marek, Pawlak Krzysztof, Sidyk Piotr.
Adres wydawniczy: Łódź : CMYK, 2006
Lokalizacja dokumentu: Wł. Inst. Elektron.
Opis części i lokalizacja: Vol.1 394 s. ISBN 83-921172-4-7Vol.2 s.407-796 ISBN 83-921172-5-5
Uwagi wewnętrzne: ISBN 83-921172-3-9. Compendex. Scopus.
Półrocze: 2
Kraj: POL
Język: eng
8/9
Nr opisu: 0000013073
Autorzy: Piotr Sidyk.
Tytuł: Wyznaczanie charakterystyk częstotliwościowych układów elektronicznych z wykorzystaniem symulatorów analizy dynamicznej.
Tytuł równoległy: Tracing AC characteristics in electronic circuits using transient analysis simulators
Cytata wydawnicza: ZKwE'2006. XI Konferencja Zastosowania Komputerów w Elektrotechnice. Materiały.
Adres wydawniczy: Poznań, 2006
Szczegóły: s.73-74, sum.
forma: odb.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Inst. Elektrotech. Teor., Metrol. i Materiałozn.
Uwagi wewnętrzne: DIG_ 013073
Półrocze: 1
Kraj: POL
Język: pol
9/9
Nr opisu: 0000007637
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas, Piotr Sidyk.
Tytuł: Building and exploiting fault dictionary for transistor circuits diagnosis.
Cytata wydawnicza: ISTET'05. Proceedings of the XIII International Sypmosium on Theoretical Electrical Engineering.
Adres wydawniczy: Lviv, 2005
Szczegóły: s.388-391
forma: odb.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Inst. Elektrotech. Teor., Metrol. i Materiałozn.
Uwagi wewnętrzne: DIG_007637
Półrocze: 2
Kraj: UKR
Język: eng
  Wyświetl ponownie stosując format:
Wyświetl/ukryj etykiety | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Nowe wyszukiwanie | Biblioteka PŁ