logo BPŁ logo PŁ

Bibliografia Dorobku Piśmienniczego Pracowników Politechniki Łódzkiej od 2004




Zapytanie: KAWCZYŃSKI RYSZARD
Liczba odnalezionych rekordów: 5



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetl/ukryj etykiety | Wersja do druku | | | Nowe wyszukiwanie
1/5
Nr opisu: 0000039850
Autorzy: Ryszard Pawlak, Ryszard Kawczyński, Ewa Korzeniewska, Marcin Lebioda, Adam Rosowski, Jacek Rymaszewski, Maciej Sibiński, Mariusz Tomczyk, Maria Walczak.
Tytuł: Ogniwa fotowoltaiczne o niekonwencjonalnych kształtach.
Tytuł równoległy: Photovoltaic cells of unconventional shapes.
Czasopismo: Prz. Elektrotech. 2013 R.89 nr 7 s.288-292, streszcz.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Bibl. Politech. Łódz.
p-ISSN: 0033-2097

Zasięg czasopisma: K
Kraj: POL
Język: pol
Punktacja MNiSW: 10.000
Praca afiliowana przez PŁ
2/5
Nr opisu: 0000038762
Autorzy: Ryszard Pawlak, Ryszard Kawczyński, Ewa Korzeniewska, Marcin Lebioda, Adam Rosowski, Jacek Rymaszewski, Maciej Sibiński, Mariusz Tomczyk, Maria Walczak.
Tytuł: Ogniwa fotowoltaiczne o niekonwencjonalnych kształtach.
Tytuł równoległy: Photovoltaic cells of unconventional shape.
Czasopismo: Pr. Inst. Elektrotech. 2012 R.59 nr 259 s.27-28
Uwagi:W zeszycie zamieszczono abstrakty referatów wygłoszonych na konferencji Postępy w Elektrotechnologii - 19-21.09.2012 Jamrozowa Polana.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Bibl. Politech. Łódz.
p-ISSN: 0032-6216

Zasięg czasopisma: K
Kraj: POL
Język: poleng
Punktacja MNiSW: 5.000
Praca afiliowana przez PŁ
3/5
Nr opisu: 0000026812
Autorzy: Ryszard Pawlak, Leszek Klimek, Ryszard Kawczyński, Mariusz Tomczyk, Maria Walczak.
Tytuł: Ocena dokładności pomiarów w mikrotechnologiach materiałowych.
Tytuł równoległy: Estimation of measuremants accuracy in materials microtechnologies.
Cytata wydawnicza: KM 2010. Kongres Metrologii. Materiały V Kongresu Metrologii 2010.
Adres wydawniczy: Łódź, 2010
Szczegóły: s.70-71, sum.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Bibl. Politech. Łódź.
Półrocze: 2
Kraj: POL
Język: pol
Praca afiliowana przez PŁ
4/5
Nr opisu: 0000027177
Autorzy: Ryszard Pawlak, Leszek Klimek, Ryszard Kawczyński, Mariusz Tomczyk, Maria Walczak.
Tytuł: Ocena dokładności pomiarów w mikrotechnologiach materiałowych.
Tytuł równoległy: Estimation of measurement accuracy in materials microtechnologies.
Czasopismo: Pomiary Autom. Kontr. 2010 Vol.56 nr 10 s.1213-1216, sum.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Bibl. Politech. Łódz.
p-ISSN: 0032-4140

Zasięg czasopisma: M
Półrocze: 2
Kraj: POL
Język: pol
Punktacja MNiSW: 9.000
Praca afiliowana przez PŁ
5/5
Nr opisu: 0000002731
Autorzy: Ryszard Kawczyński.
Tytuł: Określanie parametrów schematu zastępczego dielektryka polarnego na podstawie charakterystyk częstotliwościowych.
Cytata wydawnicza: Sympozjum Współczesne Problemy Fizyki Materiałów i Elektrotechniki MATEL 2002, MATEL 2003.
Adres wydawniczy: Łódź, 2004
Szczegóły: s.93-99
Lokalizacja dokumentu: Wł. Inst. Elektrotech. Teor., Metrol. i Materiałozn.
Toż: 1 dysk optyczny (CD-ROM) D:\MATEL0203 s.93-99 CD-ROM IIp/60/A
Uwagi wewnętrzne: DIG_002731
Półrocze: 1
Kraj: POL
Język: pol
  Wyświetl ponownie stosując format:
Wyświetl/ukryj etykiety | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Nowe wyszukiwanie | Biblioteka PŁ