logo BPŁ logo PŁ

Bibliografia Dorobku Piśmienniczego Pracowników Politechniki Łódzkiej od 2004



Zapytanie: HAŁGAS STANISŁAW
Liczba odnalezionych rekordów: 72



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetl/ukryj etykiety | Wersja do druku | | | Nowe wyszukiwanie
1/72
Nr opisu: 0000047478
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Andrzej Kuczyński, Stanisław Hałgas.
Tytuł: Catastrophic fault diagnosis of a certain class of nonlinear analog circuits.
Czasopismo: Circuits Syst. Signal Process. 2015 Vol.34 nr 2 s.353-375
p-ISSN: 0278-081X
e-ISSN: 1531-5878
Uwagi wewnętrzne: DIG_047478. Springer. Scopus.
Zasięg czasopisma: M
Kraj: USA
Język: eng
Czasopismo umieszczone na Liście Filadelfijskiej
Praca afiliowana przez PŁ
DOI:
2/72
Nr opisu: 0000045729
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas.
Tytuł: Global and local parametric diagnosis of analog short-channel CMOS circuits using homotopy-simplicial algorithm.
Czasopismo: Int. J. Circuit Theory Appl. 2014 Vol.42 nr 10 s.1051-1068
p-ISSN: 0098-9886
e-ISSN: 1097-007X
Uwagi wewnętrzne: DIG_045729. Wiley. Scopus.
Zasięg czasopisma: M
Kraj: GBR
Język: eng
Czasopismo umieszczone na Liście Filadelfijskiej, wskaźnik Impact Factor ISI: 1.254
Punktacja MNiSW: 30.000
Praca afiliowana przez PŁ
DOI:
3/72
Nr opisu: 0000045163
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas.
Tytuł: Numerical analysis of direct current circuits containing bipolar and metal oxide semiconductor transistors.
Czasopismo: Int. J. Numer. Model. 2014 Vol.27 nr 5-6 s.935-948
p-ISSN: 0894-3370
e-ISSN: 1099-1204
Uwagi wewnętrzne: DIG_045163. Wiley. Scopus.
Zasięg czasopisma: M
Kraj: GBR
Język: eng
Czasopismo umieszczone na Liście Filadelfijskiej, wskaźnik Impact Factor ISI: 0.615
Punktacja MNiSW: 15.000
Praca afiliowana przez PŁ
DOI:
4/72
Nr opisu: 0000045799
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas.
Tytuł: Multiple soft fault diagnosis of BJT circuits.
Czasopismo: Metrol. Meas. Syst. 2014 Vol.21 nr 4 s.663-674
Lokalizacja dokumentu: Wł. Bibl. Politech. Łódz.
p-ISSN: 2080-9050
e-ISSN: 2300-1941
Uwagi wewnętrzne: Scopus.
Zasięg czasopisma: M
Kraj: POL
Język: eng
Czasopismo umieszczone na Liście Filadelfijskiej, wskaźnik Impact Factor ISI: 0.925
Praca afiliowana przez PŁ
Adres url:
DOI:
5/72
Nr opisu: 0000040256
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas.
Tytuł: A method for finding multiple dc operating points of short channel CMOS circuits.
Czasopismo: Circuits Syst. Signal Process. 2013 Vol.32 nr 5 s.2457-2468
p-ISSN: 0278-081X
Uwagi wewnętrzne: DIG_040256. Springer. Scopus.
Zasięg czasopisma: M
Kraj: USA
Język: eng
Czasopismo umieszczone na Liście Filadelfijskiej, wskaźnik Impact Factor ISI: 1.264
Punktacja MNiSW: 25.000
Praca afiliowana przez PŁ
DOI:
6/72
Nr opisu: 0000038901
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas.
Tytuł: A very fast method for the DC analysis of diode-transistor circuits.
Czasopismo: Circuits Syst. Signal Process. 2013 Vol.32 nr 2 s.433-451
p-ISSN: 0278-081X
Uwagi wewnętrzne: DIG_038901. Springer.
Zasięg czasopisma: M
Kraj: USA
Język: eng
Czasopismo umieszczone na Liście Filadelfijskiej, wskaźnik Impact Factor ISI: 1.264
Punktacja MNiSW: 25.000
Praca afiliowana przez PŁ
DOI:
7/72
Nr opisu: 0000042859
Autorzy: Stanisław Hałgas, Michał Tadeusiewicz.
Tytuł: An algorithm for finding multiple DC operating points using the concept of restart homotopy.
Cytata wydawnicza: CPEE - AMTEE 2013. Joint conference Computational Problems of Electrical Engineering and Advanced Methods of the Theory of Electrical Engineering. Proceedings.
Adres wydawniczy: Plzen, 2013
Szczegóły: s.II-1
forma: odb.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Inst. Syst. Inż. Elektr.
Uwagi wewnętrzne: DIG_042859
Zasięg publikacji/pracy: M
Kraj: CZE
Język: eng
Praca afiliowana przez PŁ
8/72
Nr opisu: 0000041081
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas.
Tytuł: Multiple soft fault diagnosis of analog circuits using restart homotopy method.
Tytuł równoległy: Diagnostyka paramatryczna układów analogowych przy użyciu restartowej metody homotopijnej.
Czasopismo: Elektronika 2013 R.54 nr 12 s.87-91
Lokalizacja dokumentu: Wł. Bibl. Politech. Łódz.
p-ISSN: 0033-2089
Zasięg czasopisma: M
Półrocze: 2
Kraj: POL
Język: eng
Punktacja MNiSW: 5.000
Praca afiliowana przez PŁ
9/72
Nr opisu: 0000042865
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas.
Tytuł: Lokalizacja i identyfikacja uszkodzeń parametrycznych w układach analogowych.
Tytuł równoległy: Localization and identification of soft faults in analog circuits.
Cytata wydawnicza: IC-SPETO 2013. XXXVI Międzynarodowa Konferencja z Podstaw Elektrotechniki i Teorii Obwodów.
Adres wydawniczy: [B.m.], 2013
Szczegóły: s.[1-2], sum.
forma: odb.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Inst. Syst. Inż. Elektr.
Uwagi wewnętrzne: DIG_042865
Zasięg publikacji/pracy: K
Kraj: POL
Język: pol
Praca afiliowana przez PŁ
10/72
Nr opisu: 0000042871
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas.
Tytuł: Multiple soft fault diagnosis of analog circuits using restart homotopy method.
Cytata wydawnicza: ISTET 2013. International Symposium on Theoretical Electrical Engineering.
Adres wydawniczy: [B.m.], 2013
Szczegóły: s.II-15-II-16
forma: odb.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Inst. Syst. Inż. Elektr.
Uwagi wewnętrzne: DIG_042871
Zasięg publikacji/pracy: M
Kraj: CZE
Język: eng
Praca afiliowana przez PŁ
11/72
Nr opisu: 0000034628
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas.
Tytuł: A contraction method for locating all the DC solutions of circuits containing bipolar transistors.
Czasopismo: Circuits Syst. Signal Process. 2012 Vol.31 nr 3 s.1159-1166
p-ISSN: 0278-081X
Uwagi wewnętrzne: DIG_034628. Springer.
Zasięg czasopisma: M
Kraj: USA
Język: eng
Czasopismo umieszczone na Liście Filadelfijskiej, wskaźnik Impact Factor ISI: 0.982
Punktacja MNiSW: 20.000
Praca afiliowana przez PŁ
DOI:
12/72
Nr opisu: 0000038914
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas.
Tytuł: Analysis of BJT circuits having multiple DC solutions using deflation technique.
Cytata wydawnicza: ICSES 2012. 2012 International Conference on Signals and Electronic Systems (ICSES). The Conference Proceedings [Dokument elektroniczny].
Adres wydawniczy: [B.m.], 2012
Szczegóły: s.1-4Tryb dostępu: http://icses2012.pwr.wroc.pl/article/90.pdf [dostęp 09.04.2013].
Uwagi wewnętrzne: DIG_038914. IEEE.
Zasięg publikacji/pracy: M
Kraj: POL
Język: eng
Praca afiliowana przez PŁ
Adres url:
DOI:
13/72
Nr opisu: 0000038902
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas, Marek Korzybski.
Tytuł: Multiple catastrophic fault diagnosis of analog circuits considering the component tolerances.
Czasopismo: Int. J. Circuit Theory Appl. 2012 Vol.40 nr 10 s.1041-1052
p-ISSN: 0098-9886
Uwagi wewnętrzne: DIG_038902. Wiley.
Zasięg czasopisma: M
Kraj: GBR
Język: eng
Czasopismo umieszczone na Liście Filadelfijskiej, wskaźnik Impact Factor ISI: 1.293
Punktacja MNiSW: 30.000
Praca afiliowana przez PŁ
DOI:
14/72
Nr opisu: 0000035443
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas.
Tytuł: Multiple soft fault diagnosis of nonlinear circuits using the continuation method.
Czasopismo: J. Electron. Test. 2012 Vol.28 nr 4 s.487-493
p-ISSN: 0923-8174
Uwagi wewnętrzne: DIG_035443. Springer. Scopus.
Zasięg czasopisma: M
Kraj: NLD
Język: eng
Czasopismo umieszczone na Liście Filadelfijskiej, wskaźnik Impact Factor ISI: 0.454
Punktacja MNiSW: 20.000
Praca afiliowana przez PŁ
DOI:
15/72
Nr opisu: 0000034629
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas.
Tytuł: Analysis of transistor circuits having multiple DC solutions with the thermal constraint.
Czasopismo: Compel 2011 Vol.30 nr 4 s.1350-1362
forma: odb.
Lokalizacja dokumentu: Inst. Syst. Inż. Elektr.
p-ISSN: 0332-1649
Uwagi wewnętrzne: DIG_034629
Zasięg czasopisma: M
Półrocze: 2
Kraj: BGR
Język: eng
Czasopismo umieszczone na Liście Filadelfijskiej, wskaźnik Impact Factor ISI: 0.301
Punktacja MNiSW: 15.000
Praca afiliowana przez PŁ
DOI:
16/72
Nr opisu: 0000030974
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas.
Tytuł: Multiple soft fault diagnosis of nonlinear DC circuits considering component tolerances.
Czasopismo: Metrol. Meas. Syst. 2011 nr 3 s.349-360, sum.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Bibl. Politech. Łódz.
p-ISSN: 2080-9050
Zasięg czasopisma: M
Półrocze: 1
Kraj: POL
Język: eng
Czasopismo umieszczone na Liście Filadelfijskiej, wskaźnik Impact Factor ISI: 0.764
Punktacja MNiSW: 20.000
Praca afiliowana przez PŁ
17/72
Nr opisu: 0000030665
Autorzy: Stanisław Hałgas, Michał Tadeusiewicz.
Tytuł: Analysis of CMOS circuits having multiple DC operating points.
Tytuł równoległy: Analiza układów CMOS o wielu rozwiązaniach DC.
Czasopismo: Prz. Elektrotech. 2011 R.87 nr 5 s.40-42, streszcz.
Uwagi:Computational Problems of Electrical Engineering.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Bibl. Politech. Łódz.
p-ISSN: 0033-2097
Zasięg czasopisma: M
Półrocze: 1
Kraj: POL
Język: eng
Czasopismo umieszczone na Liście Filadelfijskiej, wskaźnik Impact Factor ISI: 0.244
Punktacja MNiSW: 15.000
Praca afiliowana przez PŁ
18/72
Nr opisu: 0000032227
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas.
Tytuł: Diagnostyka układów nieliniowych z uwzględnieniem tolerancji elementów.
Cytata wydawnicza: X Krajowa Konferencja Elektroniki. Materiały Konferencyjne.
Adres wydawniczy: Koszalin, 2011
Szczegóły: s.233 + 1 dysk optyczny (CD-ROM) [pełen tekst s.890-895]
Lokalizacja dokumentu: Wł. Inst. Elektron.
Uwagi wewnętrzne: DIG_032227
Półrocze: 1
Kraj: POL
Język: pol
Praca afiliowana przez PŁ
19/72
Nr opisu: 0000029328
Autorzy: Stanisław Hałgas, Michał Tadeusiewicz.
Tytuł: Analysis of CMOS circuits having multiple DC operating points.
Cytata wydawnicza: CPEE'10. Computational Problems of Electrical Engineering. [Dokument elektroniczny].
Adres wydawniczy: Plzen, 2010
Szczegóły: 1 dysk optyczny (CD-ROM) [s.1-4], streszcz.
forma: odb.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Inst. Syst. Inż. Elektr.
Uwagi wewnętrzne: DIG_029328
Półrocze: 2
Kraj: CZE
Język: eng
Praca afiliowana przez PŁ
20/72
Nr opisu: 0000029324
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas.
Tytuł: A simple approach to the analysis of nonlinear circuits having multiple DC solutions.
Cytata wydawnicza: CPEE'10. Computational Problems of Electrical Engineering. [Dokument elektroniczny].
Adres wydawniczy: Plzen, 2010
Szczegóły: 1 dysk optyczny (CD-ROM) [s.1-4], streszcz.
forma: odb.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Inst. Syst. Inż. Elektr.
Uwagi wewnętrzne: DIG_029324
Półrocze: 2
Kraj: CZE
Język: eng
Praca afiliowana przez PŁ
21/72
Nr opisu: 0000027574
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas.
Tytuł: Szybka metoda wyznaczania wielowartościowych charakterystyk w układach nieliniowych.
Tytuł równoległy: A fast method for tracing multi-valued characteristics in nonlinear circuits.
Czasopismo: Elektronika 2010 R.51 nr 12 s.33-35, sum.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Bibl. Politech. Łódz.
p-ISSN: 0033-2089
Zasięg czasopisma: M
Półrocze: 2
Kraj: POL
Język: pol
Praca afiliowana przez PŁ
22/72
Nr opisu: 0000027371
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas.
Tytuł: A fast method for tracing multi-valued characteristics in nonlinear circuits.
Cytata wydawnicza: ICSES 2010. International Conference on Signals and Electronic Systems. The Conference proceedings.
Adres wydawniczy: Gliwice, 2010
Szczegóły: s.177-180
Uwagi wewnętrzne: DIG_027371. IEEE. Compendex. Scopus.
Półrocze: 2
Kraj: POL
Język: eng
Praca afiliowana przez PŁ
23/72
Nr opisu: 0000026157
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas.
Tytuł: A method for fast simulation of multiple catastrophic faults in analogue circuits.
Czasopismo: Int. J. Circuit Theory Appl. 2010 Vol.38 nr 3 s.275-290
p-ISSN: 0098-9886
Uwagi wewnętrzne: DIG_026157. Wiley InterScience. Compendex. Scopus.
Zasięg czasopisma: M
Półrocze: 1
Kraj: GBR
Język: eng
Czasopismo umieszczone na Liście Filadelfijskiej, wskaźnik Impact Factor ISI: 1.759
Punktacja MNiSW: 32.000
Praca afiliowana przez PŁ
24/72
Nr opisu: 0000029085
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas.
Tytuł: Some contraction methods for locating and finding all the DC operating points of diode-transistor circuits.
Czasopismo: Int. J. Electron. Telecommun. 2010 Vol.56 nr 4 s.331-338
Lokalizacja dokumentu: Wł. Bibl. Politech. Łódz.
p-ISSN: 2081-8491
Uwagi wewnętrzne: Dawniej: Kwartalnik Elektroniki i Telekomunikacji (ISSN 0867-6747). Na okładce czasopisma ISSN taki jak Kwart. Elektron. i Telekomun. Compendex.
Zasięg czasopisma: M
Półrocze: 2
Kraj: POL
Język: eng
Praca afiliowana przez PŁ
25/72
Nr opisu: 0000028250
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas.
Tytuł: Soft fault diagnosis of nonlinear analog circuits using the continuation approach.
Cytata wydawnicza: NOLTA2010. International Symposium on Nonlinear Theory and its Applications (NOLTA2010). Abstract Collection.
Adres wydawniczy: [B.m.], 2010
Szczegóły: s.36
Lokalizacja dokumentu: Wł. Inst. Elektron.
Uwagi wewnętrzne: pełen tekst DIG_028254
Półrocze: 2
Kraj: POL
Język: eng
Praca afiliowana przez PŁ
26/72
Nr opisu: 0000028254
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas.
Tytuł: Soft fault diagnosis of nonlinear analog circuits using the continuation approach.
Cytata wydawnicza: NOLTA2010. International Symposium on Nonlinear Theory and its Applications (NOLTA2010). Proceedings. [Dokument elektroniczny].
Adres wydawniczy: [B.m.], 2010
Szczegóły: 1 dysk optyczny (CD-ROM) s.366-369
Lokalizacja dokumentu: Wł. Inst. Elektron.
Uwagi wewnętrzne: DIG_028254
Półrocze: 2
Kraj: POL
Język: eng
Praca afiliowana przez PŁ
27/72
Nr opisu: 0000024181
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas.
Tytuł: Contraction and elimination methods for finding multiple DC solutions of bipolar circuits.
Tytuł równoległy: Metody zawężenia i eliminacji do znajdowania wielu stałoprądowych rozwiązań w układach diodowo-tranzystorowych.
Czasopismo: Prz. Elektrotech. 2010 R.86 nr 1 s.11-13, streszcz.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Bibl. Politech. Łódz.
p-ISSN: 0033-2097
Uwagi wewnętrzne: Scopus.
Zasięg czasopisma: M
Półrocze: 1
Kraj: POL
Język: eng
Czasopismo umieszczone na Liście Filadelfijskiej, wskaźnik Impact Factor ISI: 0.242
Punktacja MNiSW: 9.000
Praca afiliowana przez PŁ
28/72
Nr opisu: 0000024284
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas.
Tytuł: Contraction and elimination methods for finding multiple DC solutions of bipolar circuits.
Cytata wydawnicza: CPEE'09. 10th International Workshop "Computational Problems of Electrical Engineering" [Dokument elektroniczny].
Adres wydawniczy: [B.m.], 2009
Szczegóły: 1 dysk optyczny (CD-ROM) s.[1-3]
forma: odb.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Inst. Elektrotech. Teor., Metrol. i Materiałozn.
Uwagi wewnętrzne: DIG_024284
Półrocze: 2
Kraj: POL
Język: eng
29/72
Nr opisu: 0000022700
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas.
Tytuł: Improved algorithm for computing all the DC operating points of diode-transistor circuits.
Cytata wydawnicza: ECCTD 2009. European Conference on Circuit Theory and Design Conference Program.
Adres wydawniczy: [B.m.], 2009
Szczegóły: s.489-492
Uwagi wewnętrzne: DIG_022700. IEEE. Compendex. Scopus.
Półrocze: 2
Kraj: TUR
Język: eng
30/72
Nr opisu: 0000022699
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas.
Tytuł: Multiple catastrophic fault diagnosis of linear circuits considering the component tolerances.
Cytata wydawnicza: ECCTD 2009. European Conference on Circuit Theory and Design Conference Program.
Adres wydawniczy: [B.m.], 2009
Szczegóły: s.647-650
Uwagi wewnętrzne: DIG_022699. IEEE. Compendex. Scopus.
Półrocze: 2
Kraj: TUR
Język: eng
31/72
Nr opisu: 0000024239
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas.
Tytuł: Finding all the DC solutions of circuits containing diodes and bipolar transistors.
Tytuł równoległy: Obliczanie wszystkich rozwiązań stałoprądowych w układach diodowo-tranzystorowych.
Czasopismo: Elektronika 2009 R.50 nr 12 s.39-42, streszcz.
Uwagi:MIXDES 2009. Mixed Design of Integrated Circuits and Systems.
Lokalizacja dokumentu: P-1719
p-ISSN: 0033-2089
Zasięg czasopisma: M
Półrocze: 2
Kraj: POL
Język: eng
32/72
Nr opisu: 0000024275
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas.
Tytuł: Analysis of transistor circuits having multiple DC solutions with the thermal constraint.
Cytata wydawnicza: ISTET'09. Proceedings of the XV International Sypmosium on Theoretical Electrical Engineering [Dokument elektroniczny].
Adres wydawniczy: [B.m.], 2009
Szczegóły: 1 dysk optyczny (CD-ROM) s.45-48
forma: odb.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Inst. Elektrotech. Teor., Metrol. i Materiałozn.
Uwagi wewnętrzne: DIG_024275
Półrocze: 2
Kraj: DEU
Język: eng
33/72
Nr opisu: 0000022834
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas.
Tytuł: Finding all the DC solutions of circuits containing diodes and bipolar transistors.
Cytata wydawnicza: MIXDES 2009. Proceedings of the 16th International Conference on Mixed Design of Integrated Circuits and Systems.
Adres wydawniczy: Łódź, 2009
Szczegóły: s.433-437
Lokalizacja dokumentu: 106700
Uwagi wewnętrzne: DIG_022834. IEEE. Scopus.
Półrocze: 1
Kraj: POL
Język: eng
34/72
Nr opisu: 0000022601
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas.
Tytuł: Analiza układów nieliniowych o wielu rozwiązaniach DC.
Tytuł równoległy: Analysis of nonlinear circuits having multiple DC solutions.
Czasopismo: Prz. Elektrotech. 2009 R.85 nr 11 s. 149-152, sum.
Lokalizacja dokumentu: P-309
p-ISSN: 0033-2097
Zasięg czasopisma: M
Półrocze: 2
Kraj: POL
Język: eng
Czasopismo umieszczone na Liście Filadelfijskiej
Punktacja MNiSW: 9.000
35/72
Nr opisu: 0000024279
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas.
Tytuł: Analiza układów nieliniowych o wielu rozwiązaniach DC.
Cytata wydawnicza: VIII Krajowa Konferencja Elektroniki. Materiały konferencyjne.
Adres wydawniczy: [B.m.], 2009
Szczegóły: s.227-232
forma: odb.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Inst. Elektrotech. Teor., Metrol. i Materiałozn.
Uwagi wewnętrzne: DIG_024279
Półrocze: 1
Kraj: POL
Język: pol
36/72
Nr opisu: 0000022460
Autorzy: Stanisław Hałgas.
Tytuł: Metody symulacji i diagnostyki analogowych układów elektronicznych.
Czasopismo: Zesz. Nauk. Politech. Łódz. Rozpr. Nauk. 2009 z.379 s.3-143, sum.
Uwagi:W serii gł. nr 1042. [Praca habilitacyjna].
Lokalizacja dokumentu: P-2855
p-ISSN: 0137-4834
Zasięg czasopisma: K
Półrocze: 2
Kraj: POL
Język: pol
Punktacja MNiSW: 2.000
37/72
Nr opisu: 0000018426
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas.
Tytuł: Wyznaczanie statystycznych charakterystyk w układach tranzystorowych z wykorzystaniem symulatora analizy dynamicznej SPICE.
Tytuł równoległy: Tracing static characteristic s in transistor circuits using the transient analysis of SPICE.
Czasopismo: Elektronika 2008 R.49 nr 11 s.170-173, sum.
Lokalizacja dokumentu: P-1719
p-ISSN: 0033-2089
Zasięg czasopisma: M
Półrocze: 2
Kraj: POL
Język: pol
38/72
Nr opisu: 0000021315
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas.
Tytuł: Zastosowanie koncepcji homotopii do analizy DC układów tranzystorowych z uwzględnieniem zjawiska samonagrzewania.
Tytuł równoległy: DC analysis of transistor with the thermal constraint using the homotopy approach.
Czasopismo: Elektronika 2008 R.49 nr 11 s.140-144, sum.
Lokalizacja dokumentu: P-1719
p-ISSN: 0033-2089
Zasięg czasopisma: M
Półrocze: 1
Kraj: POL
Język: pol
39/72
Nr opisu: 0000019471
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas.
Tytuł: An efficient method for simulation of multiple catastrophic faults.
Cytata wydawnicza: ICECS 2008. The 15th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems [Dokument elektroniczny].
Adres wydawniczy: [B.m.], 2008
Szczegóły: 1 dysk optyczny (CD-ROM) P0894102.pdf s.356-359
Lokalizacja dokumentu: Wł. Kat. Mikroelektron. i Tech. Inform.
Uwagi wewnętrzne: DIG_019471. IEEE. Compendex. Scopus.
Półrocze: 2
Kraj: MLT
Język: eng
40/72
Nr opisu: 0000019475
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas.
Tytuł: Tracing some temperature characteristics in diode-transistor circuits having multiple DC solutions.
Cytata wydawnicza: ICECS 2008. The 15th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems [Dokument elektroniczny].
Adres wydawniczy: [B.m.], 2008
Szczegóły: 1 dysk optyczny (CD-ROM) P0624104.pdf s.247-250
Lokalizacja dokumentu: Wł. Kat. Mikroelektron. i Tech. Inform.
Uwagi wewnętrzne: DIG_019475. IEEE. Compendex. Scopus.
Półrocze: 2
Kraj: MLT
Język: eng
41/72
Nr opisu: 0000020100
Autorzy: Stanisław Hałgas, Michał Tadeusiewicz.
Tytuł: Multiple soft fault diagnosis of analogue electronic circuits.
Cytata wydawnicza: ICSES'08. International Conference on Signals and Electronic Systems. Conference proceedings.
Adres wydawniczy: [Kraków], 2008
Szczegóły: s.533-536
Lokalizacja dokumentu: Wł. Inst. Elektron.
Uwagi wewnętrzne: DIG_020100. IEEE. Compendex. Scopus.
Półrocze: 2
Kraj: POL
Język: eng
42/72
Nr opisu: 0000020168
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas.
Tytuł: Wyznaczanie statycznych charakterystyk w układach tranzystorowych z wykorzystaniem symulatora analizy dynamicznej SPICE.
Cytata wydawnicza: Siódma Krajowa Konferencja Elektroniki. T.2.
Adres wydawniczy: Koszalin, 2008
Szczegóły: s.349-354, sum.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Inst. Elektron.
Uwagi wewnętrzne: DIG_020168
Półrocze: 1
Kraj: POL
Język: pol
43/72
Nr opisu: 0000020169
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas.
Tytuł: Zastosowanie koncepcji homotopii do analizy DC układów tranzystorowych z uwzględnieniem zjawiska samonagrzewania.
Cytata wydawnicza: Siódma Krajowa Konferencja Elektroniki. T.2.
Adres wydawniczy: Koszalin, 2008
Szczegóły: s.361-366, sum.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Inst. Elektron.
Uwagi wewnętrzne: DIG_020169
Półrocze: 1
Kraj: POL
Język: pol
44/72
Nr opisu: 0000021293
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas.
Tytuł: Komputerowe metody analizy układów analogowych: teoria i zastosowania.
Adres wydawniczy: Warszawa : Wydaw. Nauk. Tech., 2008
Szczegóły: 405 s.25 cm.
Lokalizacja dokumentu: 110414/s
p-ISBN: 978-83-204-3367-8
Półrocze: 2
Kraj: POL
Język: pol
45/72
Nr opisu: 0000017477
Autorzy: Stanisław Hałgas.
Tytuł: Multiple soft fault diagnosis of nonlinear circuits using the fault dictionary approach.
Czasopismo: Bull. Pol. Acad. Sci. Tech. Sci. 2008 Vol.56 nr 1 s.53-57
Lokalizacja dokumentu: P-3145
p-ISSN: 0239-7528
Uwagi wewnętrzne: Compendex. Scopus.
Zasięg czasopisma: M
Półrocze: 2
Kraj: POL
Język: eng
Czasopismo umieszczone na Liście Filadelfijskiej
46/72
Nr opisu: 0000013626
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas.
Tytuł: Tracing temperature characteristics in diode-transistor circuits having multiple DC solutions.
Czasopismo: Bull. Pol. Acad. Sci. Tech. Sci. 2007 Vol.55 nr 3 s.317-323
Lokalizacja dokumentu: P-2145
p-ISSN: 0239-7528
Uwagi wewnętrzne: Compendex. Scopus.
Zasięg czasopisma: M
Półrocze: 2
Kraj: POL
Język: eng
Czasopismo umieszczone na Liście Filadelfijskiej
47/72
Nr opisu: 0000017278
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas.
Tytuł: Finding all the DC solutions of transistor circuits with the thermal constraint.
Cytata wydawnicza: ECCTD 2007. 18th European Conference on Circuit Theory and Design 2007.
Adres wydawniczy: [B.m.], 2007
Szczegóły: s.982-985
Uwagi wewnętrzne: DIG_017278. IEEE. Scopus.
Półrocze: 2
Kraj: ESP
Język: eng
48/72
Nr opisu: 0000017277
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Piotr Sidyk, Stanisław Hałgas.
Tytuł: A method for multiple fault diagnosis in dynamic analogue circuits.
Cytata wydawnicza: ECCTD 2007. 18th European Conference on Circuit Theory and Design 2007.
Adres wydawniczy: [B.m.], 2007
Szczegóły: s.834-837
Uwagi wewnętrzne: DIG_017277. IEEE. Compendex. Scopus.
Półrocze: 2
Kraj: ESP
Język: eng
49/72
Nr opisu: 0000013890
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas, Piotr Sidyk.
Tytuł: Metoda wykrywania uszkodzeń parametrycznych w układach tranzystorowych.
Tytuł równoległy: Soft fault diagnosis of transistor circuits.
Czasopismo: Elektronika 2007 R.48 nr 11 s.31-33, sum.
Uwagi:VI Krajowa Konferencja Elektroniki.
Lokalizacja dokumentu: P-1719
p-ISSN: 0033-2089
Zasięg czasopisma: M
Półrocze: 2
Kraj: POL
Język: pol
50/72
Nr opisu: 0000017282
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas.
Tytuł: Finding operating points of the diode-transistor circuits via homotopy approach.
Tytuł równoległy: Obliczanie punktów pracy układów diodowo-tranzystorowych z użyciem metody homotopii.
Czasopismo: Prz. Elektrotech. Konf. 2007 R.5 nr 2 s.69-72, streszcz.
forma: odb.
Uwagi:8th International Workshop Computational Problems of Electrical Engineering. Wilkasy, Poland, September 14-16, 2007.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Inst. Elektrotech. Teor., Metrol. i Materiałozn.
p-ISSN: 1731-6103
Uwagi wewnętrzne: DIG_017282
Zasięg czasopisma: M
Półrocze: 2
Kraj: POL
Język: eng
51/72
Nr opisu: 0000017281
Autorzy: Stanisław Hałgas, Michał Tadeusiewicz.
Tytuł: Finding parametric characteristics in diode-transistor circuits.
Tytuł równoległy: Wyznaczanie charakterystyk parametrycznych w układach diodowo-tranzystorowych.
Czasopismo: Prz. Elektrotech. Konf. 2007 R.5 nr 2 s.20-23, streszcz.
forma: odb.
Uwagi:8th International Workshop Computational Problems of Electrical Engineering. Wilkasy, Poland, September 14-16, 2007.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Inst. Elektrotech. Teor., Metrol. i Materiałozn.
p-ISSN: 1731-6103
Uwagi wewnętrzne: DIG_017281
Zasięg czasopisma: M
Półrocze: 2
Kraj: POL
Język: eng
52/72
Nr opisu: 0000014450
Autorzy: Stanisław Hałgas.
Tytuł: Metoda słownikowa wykrywania uszkodzeń parametrycznych w układach nieliniowych.
Cytata wydawnicza: Szósta Krajowa Konferencja Elektroniki. T.1
Adres wydawniczy: Koszalin, 2007
Szczegóły: s.119-124
Lokalizacja dokumentu: Wł. Inst. Elektron.
Toż: 1 dysk optyczny CD-ROM
Uwagi wewnętrzne: DIG_014450
Półrocze: 1
Kraj: POL
Język: pol
53/72
Nr opisu: 0000014449
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas, Piotr Sidyk.
Tytuł: Metoda wykrywania uszkodzeń parametrycznych w układach tranzystorowych.
Cytata wydawnicza: Szósta Krajowa Konferencja Elektroniki. T.1
Adres wydawniczy: Koszalin, 2007
Szczegóły: s.113-118sum.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Inst. Elektron.
Toż: 1 dysk optyczny CD-ROM
Uwagi wewnętrzne: DIG_014449
Półrocze: 1
Kraj: POL
Język: pol
54/72
Nr opisu: 0000017102
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas, Jerzy Ziemnicki.
Tytuł: Laboratorium teorii obwodów.
Adres wydawniczy: Łódź : Wydaw. Politech. Łódz., 2007
Szczegóły: 90 s.24 cm
Lokalizacja dokumentu: 102924
p-ISBN: 978-83-7283-225-2
Półrocze: 2
Kraj: POL
Język: pol
55/72
Nr opisu: 0000008885
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas.
Tytuł: A method for the analysis of transistor circuits having multiple DC solutions.
Czasopismo: AEU Int. J. Electron. Commun. 2006 Vol.60 nr 8 s.582-589
p-ISSN: 1434-8411
Uwagi wewnętrzne: DIG_008885. Science Direct. Compendex. Scopus. EBSCO.
Zasięg czasopisma: M
Półrocze: 2
Kraj: DEU
Język: eng
Czasopismo umieszczone na Liście Filadelfijskiej
56/72
Nr opisu: 0000009980
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas.
Tytuł: Multiple fault diagnosis in electronic circuits.
Tytuł równoległy: Diagnostyka układów elektronicznych z wielokrotnymi uszkodzeniami.
Cytata wydawnicza: IC-SPETO 2006. XXIX Miedzynarodowa Konferencja z Podstaw Elektrotechniki i Teorii Obwodów. Vol.2
Adres wydawniczy: Gliwice, 2006
Szczegóły: s.279-282
Lokalizacja dokumentu: Wł. Samodz. Zakł. Sieci Komput.
Uwagi wewnętrzne: DIG_009980
Półrocze: 2
Kraj: POL
Język: eng
57/72
Nr opisu: 0000010187
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas.
Tytuł: Finding all the DC solutions in circuits containing bipolar transistors.
Cytata wydawnicza: ICSES'06. International Conference on Signals and Electronic Systems. Conference Proceedings. Vol.1.
Adres wydawniczy: Łódź, 2006
Szczegóły: s.361-364
Lokalizacja dokumentu: Wł. Inst. Elektron.
Uwagi wewnętrzne: DIG_010187. Compendex.
Półrocze: 2
Kraj: POL
Język: eng
58/72
Nr opisu: 0000010220
Autorzy: Stanisław Hałgas, Michał Tadeusiewicz.
Tytuł: Tracing temperature characteristics in MOS-transistor circuits having multiple DC solutions.
Cytata wydawnicza: ICSES'06. International Conference on Signals and Electronic Systems. Conference Proceedings. Vol.2.
Adres wydawniczy: Łódź, 2006
Szczegóły: s.609-612
Lokalizacja dokumentu: Wł. Inst. Elektron.
Uwagi wewnętrzne: DIG_010220. Compendex. Scopus.
Półrocze: 2
Kraj: POL
Język: eng
59/72
Nr opisu: 0000009083
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas.
Tytuł: An algorithm for multiple fault diagnosis in analogue circuits.
Czasopismo: Int. J. Circuit Theory Appl. 2006 Vol.34 nr 6 s.607-615
p-ISSN: 0098-9886
Uwagi wewnętrzne: DIG_009083. Wiley InterScience. Scopus. Compendex.
Zasięg czasopisma: M
Półrocze: 2
Kraj: GBR
Język: eng
Czasopismo umieszczone na Liście Filadelfijskiej
60/72
Nr opisu: 0000013008
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas.
Tytuł: Wyznaczanie charakterystyk temperaturowych w układach diodowo-tranzystorowych o wielu punktach równowagi.
Cytata wydawnicza: Piąta Krajowa Konferencja Elektroniki. Materiały konferencji. T.1.
Adres wydawniczy: Koszalin, 2006
Szczegóły: s.63-68
forma: odb.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Inst. Elektrotech. Teor., Metrol. i Materiałozn.
Uwagi wewnętrzne: DIG_013008
Półrocze: 1
Kraj: POL
Język: pol
61/72
Nr opisu: 0000004965
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas.
Tytuł: Tracing AM-detector transfer characteristics.
Czasopismo: Compel 2005 Vol.24 nr 4 s.1439-1449
Uwagi:odb.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Inst. Elektrotech. Teor., Metrol. i Materiałozn.
p-ISSN: 0332-1649
Uwagi wewnętrzne: DIG_004965. Compendex. Scopus.
Zasięg czasopisma: M
Półrocze: 2
Kraj: IRL
Język: eng
Czasopismo umieszczone na Liście Filadelfijskiej
62/72
Nr opisu: 0000004604
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas.
Tytuł: Transient analysis of nonlinear dynamic circuits using a numerical-integration method.
Czasopismo: Compel 2005 Vol.24 nr 2 s.707-719
Uwagi:odb.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Inst. Elektrotech. Teor., Metrol. i Materiałozn.
p-ISSN: 0332-1649
Uwagi wewnętrzne: DIG_004604. Compendex.
Zasięg czasopisma: M
Półrocze: 1
Kraj: IRL
Język: eng
Czasopismo umieszczone na Liście Filadelfijskiej
63/72
Nr opisu: 0000007648
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas.
Tytuł: Analysis of diode-transistor circuits having multiple DC solutions.
Cytata wydawnicza: ECCTD 2005. Proceedings of the European Conference on Circuit Theory and Design. Vol.3.
Adres wydawniczy: Cork, 2005
Szczegóły: s.39-42
forma: odb.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Inst. Elektrotech. Teor., Metrol. i Materiałozn.
Uwagi wewnętrzne: DIG_007648. Compendex. Scopus.
Półrocze: 2
Kraj: IRL
Język: eng
64/72
Nr opisu: 0000007649
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas.
Tytuł: Multiple fault diagnosis in analogue circuits.
Cytata wydawnicza: ECCTD 2005. Proceedings of the European Conference on Circuit Theory and Design. Vol.3.
Adres wydawniczy: Cork, 2005
Szczegóły: s.205-208
forma: odb.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Inst. Elektrotech. Teor., Metrol. i Materiałozn.
Uwagi wewnętrzne: DIG_007649. Compendex. Scopus.
Półrocze: 2
Kraj: IRL
Język: eng
65/72
Nr opisu: 0000007637
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas, Piotr Sidyk.
Tytuł: Building and exploiting fault dictionary for transistor circuits diagnosis.
Cytata wydawnicza: ISTET'05. Proceedings of the XIII International Sypmosium on Theoretical Electrical Engineering.
Adres wydawniczy: Lviv, 2005
Szczegóły: s.388-391
forma: odb.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Inst. Elektrotech. Teor., Metrol. i Materiałozn.
Uwagi wewnętrzne: DIG_007637
Półrocze: 2
Kraj: UKR
Język: eng
66/72
Nr opisu: 0000007634
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Krzysztof Pawlak, Stanisław Hałgas.
Tytuł: DC analysis of diode transistor circuits.
Cytata wydawnicza: ISTET'05. Proceedings of the XIII International Sypmosium on Theoretical Electrical Engineering.
Adres wydawniczy: Lviv, 2005
Szczegóły: s.392-395
forma: odb.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Inst. Elektrotech. Teor., Metrol. i Materiałozn.
Uwagi wewnętrzne: DIG_007634
Półrocze: 2
Kraj: UKR
Język: eng
67/72
Nr opisu: 0000007635
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas.
Tytuł: Evaluation of the faulty parameters of analog circuits.
Cytata wydawnicza: ISTET'05. Proceedings of the XIII International Sypmosium on Theoretical Electrical Engineering.
Adres wydawniczy: Lviv, 2005
Szczegóły: s.384-387
forma: odb.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Inst. Elektrotech. Teor., Metrol. i Materiałozn.
Uwagi wewnętrzne: DIG_007635
Półrocze: 2
Kraj: UKR
Język: eng
68/72
Nr opisu: 0000000592
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas.
Tytuł: Analiza stałoprądowa układów zawierających tranzystory MOS z krótkim kanałem.
Tytuł równoległy: DC analysis of circuits containing short-channel MOS transistors.
Czasopismo: Elektronika 2004 R.45 nr 11 s.30-33, sum.
Lokalizacja dokumentu: P-1719
p-ISSN: 0033-2089
Zasięg czasopisma: M
Półrocze: 2
Kraj: POL
Język: pol
69/72
Nr opisu: 0000002788
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas.
Tytuł: Finding all the DC solutions of circuits containing idealized diodes and transistors.
Cytata wydawnicza: ICSES'04. International Conference on Signals and Electronic Systems. Proceedings.
Adres wydawniczy: [B.m.], 2004
Szczegóły: s.51-54
forma: odb.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Inst. Elektrotech. Teor., Metrol. i Materiałozn.
Uwagi wewnętrzne: DIG_002788
Półrocze: 2
Kraj: POL
Język: eng
70/72
Nr opisu: 0000000600
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas.
Tytuł: Computing multivalued input-output characteristics in the circuits containing bipolar transistors.
Czasopismo: IEEE Trans. Circuits Syst. 1 2004 Vol.51 nr 9 s.1859-1867
forma: odb.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Inst. Elektrotech. Teor., Metrol. i Materiałozn.
p-ISSN: 1057-7122
Uwagi wewnętrzne: DIG_000600
Zasięg czasopisma: M
Półrocze: 2
Kraj: USA
Język: eng
Czasopismo umieszczone na Liście Filadelfijskiej
71/72
Nr opisu: 0000001060
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas.
Tytuł: An algorithm for the analysis of dynamic electronic circuits.
Cytata wydawnicza: Proceedings of the VIth International Workshop Computational Problems of Electrical Engineering.
Adres wydawniczy: Warszawa : Ofic. Wydaw. Politech. Warsz., 2004
Szczegóły: s.221-224
Lokalizacja dokumentu: Wł. Samodz. Zakł. Sieci Komput.
Uwagi wewnętrzne: DIG_001060
Półrocze: 1
Kraj: POL
Język: eng
72/72
Nr opisu: 0000001044
Autorzy: Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas.
Tytuł: Computing input-output characteristics of circuits containing idealized diodes and transistors.
Cytata wydawnicza: Proceedings of the VIth International Workshop Computational Problems of Electrical Engineering.
Adres wydawniczy: Warszawa : Ofic. Wydaw. Politech. Warsz., 2004
Szczegóły: s.50-53
Lokalizacja dokumentu: Wł. Samodz. Zakł. Sieci Komput.
Uwagi wewnętrzne: DIG_001044
Półrocze: 1
Kraj: POL
Język: eng
  Wyświetl ponownie stosując format:
Wyświetl/ukryj etykiety | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Nowe wyszukiwanie | Biblioteka PŁ