logo BPŁ logo PŁ

Bibliografia Dorobku Piśmienniczego Pracowników Politechniki Łódzkiej od 2004




Zapytanie: GRABIEC PIOTR
Liczba odnalezionych rekordów: 3



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetl/ukryj etykiety | Wersja do druku | | | Nowe wyszukiwanie
1/3
Nr opisu: 0000028176
Autorzy: Piotr Grabiec, Wiesław Kuźmicz, Andrzej Napieralski.
Tytuł: Nanoelektronika w Polsce: bariery, szanse i kierunki działania.
Cytata wydawnicza: Analiza stanu i kierunki rozwoju elektroniki i telekomunikacji.
Adres wydawniczy: Warszawa, 2010
Szczegóły: s.137-182
Lokalizacja dokumentu: Wł. Inst. Elektron.
Uwagi wewnętrzne: DIG_028176
Półrocze: 1
Kraj: POL
Język: pol
Praca afiliowana przez PŁ
2/3
Nr opisu: 0000005629
Autorzy: Teodor Gotszalk, Andrzej Sikora, Krzysztof Kolanek, Roman Szeloch, Jan Szmidt, Piotr Grabiec, Ivo W. Rangelow, Stanisław Mitura.
Tytuł: Metody mikroskopii bliskiego pola od mikro do nanoelektroniki: diagnostyka, wytwarzanie.
Cytata wydawnicza: Czwarta Krajowa Konferencja Elektroniki. Materiały konferencji. T.1.
Adres wydawniczy: Koszalin, 2005
Szczegóły: s.33-43
Lokalizacja dokumentu: Wł. Inst. Elektron.
Uwagi wewnętrzne: DIG_005629
Półrocze: 1
Kraj: POL
Kod współpracy międzynarodowej: DEU
Język: pol
3/3
Nr opisu: 0000005086
Autorzy: Teodor Gotszalk, Andrzej Sikora, Krzysztof Kolanek, Roman Szeloch, Jan Szmidt, Piotr Grabiec, Ivo Rangelow, Stanisław Mitura.
Tytuł: Metody mikroskopii bliskiego pola od mikro- do nanoelektroniki: diagnostyka, wytwarzanie.
Tytuł równoległy: Scanning probe microscopy methods in micro- and nanoelectronics: diagnostics and fabrication.
Czasopismo: Elektronika 2005 R.46 nr 11 s.14-18, sum.
Lokalizacja dokumentu: P-1719
p-ISSN: 0033-2089

Zasięg czasopisma: K
Półrocze: 2
Kraj: POL
Kod współpracy międzynarodowej: DEU
Język: pol
  Wyświetl ponownie stosując format:
Wyświetl/ukryj etykiety | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Nowe wyszukiwanie | Biblioteka PŁ