Bibliografia Dorobku Piśmienniczego Pracowników Politechniki Łódzkiej od 2004

1/4
Nr opisu: 0000024813
Autorzy: Piotr Zając, Jacques Henri Collet, Jean Arlat, Yves Crouzet.
Tytuł: Fault tolerance of the input/output ports in massively defective multicore processor chips.
Cytata wydawnicza: WDSN 2008. 2nd Workshop on Dependable and Secure Nanocomputing. 38th Annual IEEE/IFIP International Conference on Dependable Systems and Networks. Supplementary.
Adres wydawniczy: [B.m.], 2008
Szczegóły: s.[1-6]
forma: odb.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Kat. Mikroelektron. i Tech. Inform.
Uwagi wewnętrzne: DIG_024813
Półrocze: 1
Kraj: USA
Język: eng
2/4
Nr opisu: 0000015703
Autorzy: Piotr Zając, Jacques Henri Collet, Jean Arlat, Yves Crouzet.
Tytuł: Resilience through self-configuration in massively defective NOCs.
Cytata wydawnicza: DATE 07. Workshop on Diagnostic Services in Network-on-Chips. Test (in conjunction with Design, Automation and Test in Europe).
Adres wydawniczy: [B.m.], 2007
Szczegóły: [s.1-3]
forma: odb.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Kat. Mikroelektron. i Tech. Inform.
Uwagi wewnętrzne: DIG_015703
Półrocze: 1
Kraj: FRA
Kod współpracy międzynarodowej: FRA
Język: eng
3/4
Nr opisu: 0000015820
Autorzy: Piotr Zając, Jacques Henri Collet, Yves Crouzet.
Tytuł: Resilience through self-configuration in the future massively defective nanochips.
Cytata wydawnicza: DSN 2007. Proceedings of the 37th Annual IEEE/IFIP International Conference on Dependable Systems and Network.
Adres wydawniczy: [B.m.], 2007
Szczegóły: [s.1-6]
forma: odb.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Kat. Mikroelektron. i Tech. Inform.
Uwagi wewnętrzne: DIG_015820
Półrocze: 1
Kraj: GBR
Kod współpracy międzynarodowej: FRA
Język: eng
4/4
Nr opisu: 0000009862
Autorzy: Jacques Henri Collet, Piotr Zając, Yves Crouzet, Andrzej Napieralski.
Tytuł: Contribution of communications to dependability in massively-defective general-purpose nanoarchitectures.
Cytata wydawnicza: IOLTS 2006. 12th International On-line Testing Symposium.
Adres wydawniczy: [B.m.], 2006
Szczegóły: s.219-224
Uwagi wewnętrzne: DIG_009862. IEEE. Scopus.
Półrocze: 1
Kraj: ITA
Kod współpracy międzynarodowej: FRA
Język: eng
Wyświetl ponownie stosując format:

Wyświetl/ukryj etykiety | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Nowe wyszukiwanie | Biblioteka PŁ