Bibliografia Dorobku Piśmienniczego Pracowników Politechniki Łódzkiej od 2004

1/11
Nr opisu: 0000028638
Autorzy: Jacques Henri Collet, Piotr Zając, Mihalis Psarakis, Dimitris Gizopoulos.
Tytuł: Chip self-organization and fault tolerance in massively defective multicore arrays.
Czasopismo: IEEE Trans. Dependable Secure Compu. 2011 Vol.8 nr 2 s.207-217
p-ISSN: 1545-5971
Uwagi wewnętrzne: DIG_028638. IEEE. Compendex. Scopus.
Zasięg czasopisma: M
Kraj: USA
Kod współpracy międzynarodowej: FRA, GRC
Język: eng
Czasopismo umieszczone na Liście Filadelfijskiej, wskaźnik Impact Factor ISI: 1.140
Punktacja MNiSW: 35.000
Praca afiliowana przez PŁ
2/11
Nr opisu: 0000026497
Autorzy: Marcin Janicki, Jacques Henri Collet, A. Louri, Andrzej Napieralski.
Tytuł: Hot spots and core-to-core thermal coupling in future multi-core architectures.
Cytata wydawnicza: SEMI-THERM 2010. 26th Annual IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium. Proceedings.
Adres wydawniczy: [B.m.], 2010
Szczegóły: s.205-209
Uwagi wewnętrzne: DIG_026497. IEEE. Compendex. Scopus.
Półrocze: 1
Kraj: USA
Kod współpracy międzynarodowej: FRA, USA
Język: eng
Praca afiliowana przez PŁ
3/11
Nr opisu: 0000022635
Autorzy: E. Kolonis, M. Nicolaidis, D. Gizopoulos, M. Psarakis, Jacques Henri Collet, Piotr Zając.
Tytuł: Enhanced self-configurability and yield in multicore grids.
Cytata wydawnicza: IOLTS 2009. 15th IEEE International On-Line Testing Symposium.
Adres wydawniczy: [B.m.], 2009
Szczegóły: s.75-80
Uwagi wewnętrzne: DIG_022635. IEEE. Compendex. Referat oznaczony jako 5195986. Scopus.
Półrocze: 1
Kraj: PRT
Kod współpracy międzynarodowej: GRC, FRA
Język: eng
4/11
Nr opisu: 0000022789
Autorzy: Jacques Henri Collet, Mihalis Psarakis, Piotr Zając, Dimitris Gizopoulos, Andrzej Napieralski.
Tytuł: Comparison of fault-tolerance techniques for massively defective fine- and coarse-grained nanochips.
Cytata wydawnicza: MIXDES 2009. Proceedings of the 16th International Conference on Mixed Design of Integrated Circuits and Systems.
Adres wydawniczy: Łódź, 2009
Szczegóły: s.23-30
Lokalizacja dokumentu: 106700
Uwagi wewnętrzne: DIG_022789. IEEE. Compendex. Scopus.
Półrocze: 1
Kraj: POL
Kod współpracy międzynarodowej: FRA, GRC
Język: eng
5/11
Nr opisu: 0000019669
Autorzy: Piotr Zając, Jacques Henri Collet, Andrzej Napieralski.
Tytuł: Self-configuration and reachability metrics in massively defective multiport chips.
Cytata wydawnicza: IOLTS 2008. 14th IEEE International On-Line Testing Symposium.
Adres wydawniczy: Los Alamitos, 2008
Szczegóły: s.219-224
Uwagi wewnętrzne: DIG_019669. IEEE. Scopus.
Półrocze: 2
Kraj: USA
Kod współpracy międzynarodowej: FRA
Język: eng
6/11
Nr opisu: 0000024813
Autorzy: Piotr Zając, Jacques Henri Collet, Jean Arlat, Yves Crouzet.
Tytuł: Fault tolerance of the input/output ports in massively defective multicore processor chips.
Cytata wydawnicza: WDSN 2008. 2nd Workshop on Dependable and Secure Nanocomputing. 38th Annual IEEE/IFIP International Conference on Dependable Systems and Networks. Supplementary.
Adres wydawniczy: [B.m.], 2008
Szczegóły: s.[1-6]
forma: odb.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Kat. Mikroelektron. i Tech. Inform.
Uwagi wewnętrzne: DIG_024813
Półrocze: 1
Kraj: USA
Język: eng
7/11
Nr opisu: 0000015703
Autorzy: Piotr Zając, Jacques Henri Collet, Jean Arlat, Yves Crouzet.
Tytuł: Resilience through self-configuration in massively defective NOCs.
Cytata wydawnicza: DATE 07. Workshop on Diagnostic Services in Network-on-Chips. Test (in conjunction with Design, Automation and Test in Europe).
Adres wydawniczy: [B.m.], 2007
Szczegóły: [s.1-3]
forma: odb.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Kat. Mikroelektron. i Tech. Inform.
Uwagi wewnętrzne: DIG_015703
Półrocze: 1
Kraj: FRA
Kod współpracy międzynarodowej: FRA
Język: eng
8/11
Nr opisu: 0000015820
Autorzy: Piotr Zając, Jacques Henri Collet, Yves Crouzet.
Tytuł: Resilience through self-configuration in the future massively defective nanochips.
Cytata wydawnicza: DSN 2007. Proceedings of the 37th Annual IEEE/IFIP International Conference on Dependable Systems and Network.
Adres wydawniczy: [B.m.], 2007
Szczegóły: [s.1-6]
forma: odb.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Kat. Mikroelektron. i Tech. Inform.
Uwagi wewnętrzne: DIG_015820
Półrocze: 1
Kraj: GBR
Kod współpracy międzynarodowej: FRA
Język: eng
9/11
Nr opisu: 0000015824
Autorzy: Jacques Henri Collet, Piotr Zając.
Tytuł: Resilience, production yield and self-configuration in the future massively defective nanochips.
Cytata wydawnicza: IOLTS 2007. 13th IEEE International On-Line Testing Symposium.
Adres wydawniczy: Los Alamitos, 2007
Szczegóły: [s.1]
forma: odb.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Kat. Mikroelektron. i Tech. Inform.
Uwagi wewnętrzne: DIG_015824
Półrocze: 2
Kraj: GRC
Kod współpracy międzynarodowej: FRA
Język: eng
10/11
Nr opisu: 0000015822
Autorzy: Piotr Zając, Jacques Henri Collet.
Tytuł: Production yield and self-configuration in the future massively defective nanochips.
Cytata wydawnicza: The 22nd IEEE Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems.
Adres wydawniczy: Los Alamitos, 2007
Szczegóły: s.197-205
forma: odb.
Lokalizacja dokumentu: Wł. Kat. Mikroelektron. i Tech. Inform.
Uwagi wewnętrzne: DIG_015822
Półrocze: 2
Kraj: ITA
Kod współpracy międzynarodowej: FRA
Język: eng
11/11
Nr opisu: 0000009862
Autorzy: Jacques Henri Collet, Piotr Zając, Yves Crouzet, Andrzej Napieralski.
Tytuł: Contribution of communications to dependability in massively-defective general-purpose nanoarchitectures.
Cytata wydawnicza: IOLTS 2006. 12th International On-line Testing Symposium.
Adres wydawniczy: [B.m.], 2006
Szczegóły: s.219-224
Uwagi wewnętrzne: DIG_009862. IEEE. Scopus.
Półrocze: 1
Kraj: ITA
Kod współpracy międzynarodowej: FRA
Język: eng
Wyświetl ponownie stosując format:

Wyświetl/ukryj etykiety | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Nowe wyszukiwanie | Biblioteka PŁ